晶振电路性能检测

检测项目

基础频率精度：测量标称频率与实际输出频率的偏差值

温度特性：评估-40℃至+85℃工作温域内的频率漂移量

负载特性：测试不同容性负载（8pF/12pF/18pF）下的频率变化

相位噪声：分析1Hz至1MHz偏移范围内的信号纯净度

启动时间：记录上电至稳定输出所需时间（典型值≤5ms）

老化率：连续工作30天的年化频率变化率（≤3ppm）

谐波失真：量化二次/三次谐波分量占比（≤-30dBc）

抗冲击性能：模拟50g/11ms机械冲击后的参数偏移

检测范围

器件类型：石英晶体谐振器/振荡器（XO）、压控振荡器（VCXO）、温补振荡器（TCXO）

封装形式：DIP/SMD/陶瓷封装（2.01.6mm至7.05.0mm）

频率范围：32.768kHz基频至200MHz三次泛音器件

应用领域：5G基站时钟模块/车载ECU控制单元/工业PLC时序电路/医疗监护设备

特殊环境：高海拔（≤5000m）/盐雾环境（5%NaCl）/电磁兼容（10V/m场强）

检测方法

频率精度测量：采用10位有效数字频率计数器连续采样100周期取均值

温度循环测试：在可编程温箱中执行-40℃→+25℃→+85℃三阶段梯度试验

相位噪声分析：通过低噪放大器连接频谱分析仪RBW=10Hz进行扫频测量

负载灵敏度测试：使用精密可调电容箱模拟不同负载条件（0.1pF精度）

老化率监测：在恒温（251℃）、稳压（1%）环境中持续记录30天数据

振动试验：依据MIL-STD-883HMethod2007执行XYZ三轴随机振动谱测试

谐波分析：通过50Ω终端匹配网络连接至矢量信号分析仪进行FFT变换

检测仪器

高精度频率计数器：12位分辨率/20GHz带宽/0.1ppb时基稳定度

多通道频谱分析仪：26.5GHz分析带宽/-172dBm显示平均噪声电平

程控恒温试验箱：-70℃至+180℃温域/0.1℃控制精度/15℃/min变温速率

密度/时域门控功能

<)原子钟参考源：铷原子钟10MHz输出/日老化率≤5E-12/相位噪声≤-140dBc@1Hz

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。