项目数量-432
样品结晶度X射线检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2026-02-27
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
结晶度定量分析:通过计算晶体衍射峰与非晶散射包的面积比,精确测定样品中结晶相的质量或体积分数。
晶体结构鉴定:将测得的衍射图谱与标准PDF卡片库对比,确定样品中结晶相的物相组成和晶体结构类型。
晶粒尺寸计算:利用Scherrer公式,根据衍射峰的半高宽来估算样品中晶粒的平均尺寸。
晶格应变分析:分析衍射峰的宽化效应,区分并计算由晶格畸变或微观应力引起的应变大小。
结晶取向(织构)分析:检测晶体在空间中的择优取向分布,对于薄膜、纤维等材料尤为重要。
结晶完整性评估:通过衍射峰的尖锐程度和对称性,判断晶体的完美程度和内部缺陷情况。
多晶型鉴别:区分和鉴定同一物质的不同晶体形态(多晶型),在制药行业具有关键意义。
非晶含量测定:定量或半定量地分析材料中无定形(非晶)部分的含量。
结晶过程动力学研究:通过原位XRD监测样品在加热、冷却等过程中结晶度的实时变化。
复合材料相分布:分析复合材料中不同结晶相的空间分布与相对含量。
检测范围
高分子聚合物:如聚乙烯、聚丙烯、尼龙、PET等,评估其结晶行为对力学和热学性能的影响。
药物原料及制剂:鉴别API的多晶型,监控制剂工艺(如研磨、压片)对结晶度的影响,关乎药效与稳定性。
无机非金属材料:包括陶瓷、玻璃陶瓷、水泥熟料等,分析其晶相组成与烧结程度。
金属及合金材料:用于研究金属的相变、再结晶过程、残余应力及织构分析。
半导体材料:检测外延薄膜的结晶质量、晶格匹配度以及缺陷密度。
催化剂材料:表征催化剂的活性晶相、比表面积及热稳定性相关的结构变化。
纳米材料:评估纳米颗粒、纳米线的结晶状态、尺寸效应及表面结构。
地质矿物样品:鉴定矿石的矿物组成、晶体结构及结晶程度。
碳材料:如石墨、石墨烯、碳纳米管的石墨化程度和晶体有序性分析。
食品及农产品:分析淀粉、巧克力等食品成分的结晶状态,与口感、保质期密切相关。
检测方法
广角X射线衍射:最经典的方法,通过测量大角度范围内的衍射信息,进行物相鉴定和结晶度计算。
小角X射线散射:用于研究尺寸在纳米到百纳米级的结构,如高分子片晶厚度、纳米粒子尺寸分布。
掠入射X射线衍射:特别适用于薄膜、表面及界面层的晶体结构分析,可减少基底信号的干扰。
高分辨率X射线衍射:用于精确测定单晶或高质量外延膜的晶格常数、应变和缺陷密度。
X射线粉末衍射:对多晶粉末样品进行快速物相分析和结晶度测定,应用最为广泛。
变温X射线衍射:在可控温度环境下进行测试,用于研究相变过程、热膨胀系数及热稳定性。
原位/实时X射线衍射:在样品发生化学反应、受力或外场作用时实时采集衍射数据,研究动态过程。
二维X射线衍射:采用面探测器,快速获取全空间的衍射信息,特别适合织构和应力分析。
全谱拟合(Rietveld)精修法
非晶散射分离法
检测仪器设备
多晶X射线衍射仪
高分辨率X射线衍射仪
小角X射线散射仪
二维面探测X射线衍射系统
微区X射线衍射仪
同步辐射X射线光源
旋转阳极X射线发生器
固态阵列探测器
高温/低温/拉伸等原位附件
样品自动更换器
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。
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