射线衍射结构检测

检测项目

物相定性分析：通过比对衍射图谱与标准数据库，确定样品中存在的结晶物相种类。

物相定量分析：依据衍射峰强度，计算样品中各结晶相的质量或体积百分比。

晶胞参数精修：精确测定晶体的晶格常数（a, b, c, α, β, γ），用于分析固溶体、热膨胀等。

结晶度测定：区分并计算样品中结晶部分与非晶（ amorphous ）部分的比例。

晶体结构解析与精修：从头确定未知晶体的原子空间排列模型，并对模型参数进行优化。

残余应力分析：通过测量晶面间距的变化，计算材料表面或内部的宏观与微观应力。

织构（择优取向）分析：测定多晶材料中晶粒取向的分布情况，评估其各向异性。

晶粒尺寸与微观应变：通过衍射峰宽化效应，计算亚微米级晶粒的平均尺寸和微观应变。

薄膜厚度与界面分析：利用低掠入射角X射线衍射等技术，表征薄膜的厚度、密度及界面结构。

高温/低温原位相变研究：在变温环境下实时监测材料的相变过程、相变温度及热膨胀行为。

检测范围

金属与合金材料：分析相组成、残余应力、织构、析出相，用于热处理工艺优化和质量控制。

无机非金属材料：涵盖陶瓷、水泥、矿物、耐火材料等的物相鉴定与定量分析。

高分子与聚合物：测定结晶度、晶型、取向度，研究其与材料力学性能的关系。

制药与化学品：用于药物多晶型筛查、原料药鉴定、赋形剂相容性及纯度检查。

地质与矿物样品：岩矿鉴定、矿床研究、土壤成分分析以及月球/行星地质样品研究。

纳米材料：表征纳米颗粒、纳米线的晶体结构、尺寸、应变及表面效应。

半导体材料：分析外延层质量、应变状态、薄膜厚度及超晶格结构。

催化剂材料：研究活性组分的晶相、分散度、在反应条件下的结构演变。

考古与文化遗产：无损鉴定古代陶瓷、颜料、金属制品的成分和制作工艺。

法证科学：对微量物证如粉尘、纤维、爆炸残留物进行物相分析以提供证据。

检测方法

粉末X射线衍射：最常用的方法，将样品研磨成粉末以获取所有晶面的统计衍射信息。

单晶X射线衍射：使用高质量单晶样品，可获取最全面的结构信息，用于精确解析原子位置。

高分辨率X射线衍射：主要用于半导体外延薄膜等高质量晶体材料的精密结构表征。

掠入射X射线衍射：X射线以极小角度入射，增强表面/薄膜信号，抑制基底干扰。

微区X射线衍射：利用聚焦的X射线束，对样品微小区域（微米量级）进行结构分析。

同步辐射X射线衍射利用同步辐射光源的高亮度、高准直性，进行超快、原位、高分辨实验。

中子衍射：利用中子束对轻元素（如氢、锂）敏感且穿透力强，用于磁性材料及体相结构研究。

电子背散射衍射：在扫描电镜中实现，用于快速获取材料的微区取向、织构和相分布图。

劳厄衍射法：使用白色X射线束照射固定单晶，用于确定单晶取向和对称性。

二维X射线衍射：采用面探测器，快速记录全二维衍射图谱，特别适用于织构、非晶和动态过程研究。

检测仪器设备

多晶X射线衍射仪：实验室主流设备，通常由X射线管、测角仪、探测器及控制系统组成。

单晶X射线衍射仪：配备CCD或像素阵列探测器的四圆测角仪，用于自动收集单晶衍射数据。

高分辨率三轴/双轴衍射仪：具有多重晶体单色器和分析器，用于获得极高角分辨率的衍射曲线。

微区X射线衍射系统：集成毛细管聚焦镜或反射镜，将X射线束聚焦至微米尺度。

同步辐射光束线站：大型科学装置，提供从硬X射线到软X射线的多种高性能衍射实验平台。

中子衍射谱仪

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。