金属外壳辐射发射测试

检测项目

30MHz-1GHz辐射骚扰场强测试：测量设备在开阔场或半电波暗室中，其金属外壳及内部电路向空间辐射的电磁场强度，是基础必测项目。

1GHz-18GHz（或更高）辐射骚扰测试：针对高频段（如微波）的辐射发射进行测量，评估设备在高频下的电磁兼容性能。

磁场辐射发射测试（9kHz-30MHz）：主要针对低频磁场骚扰，评估设备（尤其是含大电流环路或开关电源的设备）对邻近敏感设备的干扰。

辐射功率测试（替代法）：当设备尺寸过大或无法在标准场地测试时，采用吸收钳或辐射功率法间接评估其辐射发射水平。

外壳屏蔽效能评估：通过对比有无外壳时辐射发射的差异，定量评估金属外壳对内部电磁干扰的屏蔽效果。

缝隙与开口泄漏评估：专门检测金属外壳上的接缝、通风孔、显示窗等不连续处产生的电磁泄漏。

电缆辐射发射测试：评估连接在金属外壳设备上的线缆（如电源线、信号线）作为天线向外辐射电磁波的情况。

接地连续性测试：检查金属外壳各部分之间的电气连接是否良好，确保接地阻抗足够低，以影响共模辐射。

谐振频率点扫描测试：寻找金属外壳或内部结构可能产生谐振的频率点，这些点通常辐射发射会异常增强。

特定频率点（如时钟谐波）专项测试：针对设备内部主要时钟信号及其谐波频率进行重点测试与分析。

检测范围

信息技术设备（ITE）：包括计算机、服务器、打印机、网络交换机等带有金属外壳的IT产品。

工业、科学和医疗（ISM）设备：如工业控制器、医疗成像设备、激光设备等大型金属外壳设备。

家用电器：包括冰箱、空调、洗衣机等采用金属外壳或部分金属外壳的消费类电器。

车载电子设备：安装在车辆上的导航、娱乐、控制单元等，其金属外壳需满足汽车电子EMC标准。

军用电子设备：所有军用级别的电子装备，其金属外壳的屏蔽和辐射要求极为严格。

航空航天电子设备：机载、星载电子设备，其金属外壳需在极端环境下仍能有效抑制辐射发射。

LED照明设备：大功率LED灯具的金属散热外壳及驱动电路可能成为辐射源。

电源模块与UPS：开关电源、不同断电源等，其金属外壳对抑制高频开关噪声辐射至关重要。

电信终端设备：路由器、基站射频单元等通信设备，其金属机箱是控制无意识射的关键。

实验室与测试设备：示波器、频谱分析仪等精密仪器本身也需要进行辐射发射控制。

检测方法

开阔场测试法（OATS）：在无反射环境的开阔场进行，是辐射发射测试的基准方法，结果最接近真实空间传播。

半电波暗室测试法（SAC）：在墙壁和天花板铺设吸波材料的屏蔽室内进行，地面为导电接地板，是目前最常用的标准方法。

全电波暗室测试法（FAC）：六面均铺设吸波材料，可消除所有反射，主要用于天线测量和精密辐射测试。

GTEM小室测试法：使用横电磁波传输室进行辐射发射的预测试和诊断，速度快、成本低，空间需求小。

磁场天线法：使用环形天线在近距离测量设备产生的低频磁场辐射发射。

吸收钳法：主要适用于30MHz-1GHz频段，对设备连接电缆的辐射功率进行测量，常用于家电类产品。

电压法与电流探头法：通过测量电缆上的共模电压或电流来间接评估辐射潜力，常用于故障诊断。

近场扫描法：使用近场探头在设备外壳表面扫描，定位辐射热点和泄漏位置，属于工程诊断方法。

屏蔽室法：在屏蔽室内利用天线和接收机进行测试，但需注意室内反射对结果的影响。

比较测量法：将待测设备与已知辐射特性的参考源在相同条件下比较，以快速评估其发射水平。

检测仪器设备

EMI测试接收机：核心测量设备，能按照标准规定的检波器（如峰值、准峰值、平均值）精确测量骚扰信号电平。

频谱分析仪（带准峰值检波器）：在预测试和诊断中广泛使用，需配备符合标准的准峰值适配器以满足正式测试要求。

双锥天线、对数周期天线及复合天线：用于30MHz-1GHz频段辐射场强的接收，覆盖不同子频段。

喇叭天线：用于1GHz以上高频段（如1-18GHz或更高）的辐射发射测量。

环形天线：专门用于测量9kHz-30MHz频段的磁场辐射发射。

近场探头组：包含磁环探头和电场探头，用于近距离扫描定位PCB、电缆或外壳缝隙的辐射源。

吸收钳：用于吸收钳法测试，测量沿电缆辐射的功率。

天线塔与转台：在半电波暗室或开阔场中，用于自动升降天线高度和旋转被测设备，以寻找最大辐射方向。

前置放大器：用于放大微弱的辐射信号，提高测试系统的灵敏度，特别是高频段测试。

射频线缆、衰减器与校准器：构成完整的测试链路，需确保低损耗、良好屏蔽，并定期使用校准源对系统进行校准。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。