瓷器釉面成分检测

检测项目

瓷器釉面成分检测主要包含以下核心指标：基础氧化物（SiO₂、Al₂O₃、CaO、K₂O、Na₂O）的定量分析；呈色金属元素（Fe、Cu、Co、Mn）的赋存形态与浓度测定；助熔剂成分（PbO、B₂O₃）的配比验证；晶体相组成（石英、钙长石、硅灰石）的物相鉴定；釉层厚度与气泡结构的显微观测。

特殊项目涉及放射性同位素（如⁴⁰K-⁴⁰Ar）年代测定辅助分析、纳米级析晶相的电子衍射表征以及釉料原料溯源的地球化学指纹比对。针对修复器物需增加老化产物（盐类结晶、腐蚀层）的成分解析。

检测范围

本检测适用于各历史时期高温釉陶瓷制品：1) 单色釉系（青瓷、白瓷、酱釉）的配方演变研究；2) 彩绘瓷（青花、粉彩、珐琅彩）着色机理分析；3) 特殊工艺釉（裂纹釉、窑变釉）的形成条件反推；4) 外销瓷地域特征鉴别；5) 近现代仿古瓷的科技辨伪。

具体涵盖青瓷的Fe₂O₃/TiO₂比值测定以区分越窑与龙泉窑系；青花瓷Co-Mn-Fe三元图谱构建用于钴料产地溯源；钧瓷乳光效果与磷灰石微晶的关联性研究；以及明清官窑釉中As、Sb等微量元素标记物的识别。

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）实现主量元素无损快速测定，配备Rh靶光源可检测Z≥11元素；激光剥蚀电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）完成ppm级微量元素空间分布成像；扫描电镜-能谱联用系统（SEM-EDS）获取微区成分与显微结构对应关系。

X射线衍射（XRD）解析物相组成时采用θ-2θ联动扫描模式；拉曼光谱对局部晶格振动模式进行指纹识别；同步辐射μ-XANES技术用于元素价态原位分析。热膨胀系数测定采用推杆式高温膨胀仪记录20-800℃线性变化。

检测仪器

主要配置设备包括：波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF），配备4kW端窗铑靶X光管及5个分光晶体；场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）配合牛津INCA能谱系统；高分辨率显微共聚焦拉曼光谱仪（532nm/785nm双激光源）；粉末X射线衍射仪（Cu靶,40kV/40mA）。

辅助设备含激光剥蚀系统（193nm准分子激光器+He载气池）、高温热台显微镜（最高1600℃可控气氛）、白光干涉三维形貌仪（垂直分辨率0.1nm）。实验室需配置恒温恒湿环境控制系统（23±1℃,50±5%RH）以保证仪器稳定性。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。