储氢性能测试

检测项目

储氢性能测试体系包含五大核心指标：

储氢容量：单位质量/体积材料的最大吸氢量（wt%），包含绝对容量与可逆容量

吸附/解吸动力学：温度-压力条件下氢气的吸附速率与解吸效率

循环稳定性：连续吸放氢循环中的容量衰减率与结构完整性

热力学参数：包括焓变（ΔH）、熵变（ΔS）等关键热力学特性

材料结构表征：比表面积（BET）、孔径分布（DFT模型）及晶体结构变化

检测范围

检测方法

体积法（Sieverts法）

通过测量恒温条件下氢气压力变化计算吸附量，符合ISO 16111标准要求。测试压力范围覆盖0.1-20MPa，温度控制精度±0.1℃。

重量法（TGA-MS联用）

采用热重分析仪结合质谱检测器，同步监测质量变化与气体逸出特征。适用于纳米材料的高灵敏度测试。

程序升温脱附（TPD）

在10^-3 Pa真空环境下以5℃/min速率升温，通过QMS检测脱附峰确定吸附能分布。

压力组成等温线（PCT）法

绘制不同温度下的压力-组成曲线，计算平台压滞后系数。依据ASTM E2858进行数据拟合。

原位X射线衍射（In-situ XRD）

采用高能同步辐射光源（λ=0.5Å）实时观测吸放氢过程的晶格参数变化。

检测仪器

1. Sieverts型储氢性能测试仪

- 双气路设计实现自动压力补偿

- 量程覆盖77-773K温区

- 配备16位高精度压力传感器（精度±0.05%FS）

2. 热重-质谱联用系统（TGA-MS）

- 微量天平灵敏度0.1μg

- 质谱质量范围1-300amu

- 最高加热速率100℃/min

3. 程序升温脱附分析仪（H₂-TPD）

- UHV系统极限真空5×10^-8 Torr

- PID控温精度±0.5℃

- 四极杆质谱检测限10^-12 Torr

4. X射线衍射仪（XRD）

- Cu靶Kα辐射源（λ=1.5406Å）

- 高温附件最高测试温度1200℃

- 步进扫描精度0.001°2θ

5. BET比表面及孔径分析仪

- N₂/Ar吸附测试

- DFT/NLDFT模型计算孔径分布

- 比表面测量范围0.01-5000m²/g

6. 差示扫描量热仪（DSC）

- 温度范围-170~700℃

- 热流灵敏度0.1μW

- 动态气氛控制模块（H₂/Ar混合气路）

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。