项目数量-208
搪瓷成分检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-04-22
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
搪瓷制品质量评价需开展多维度成分分析:基材金属(低碳钢/铸铁/铝材)的C、Mn、Si元素含量直接影响界面结合强度;釉料中SiO2(45-65%)、B2O3(8-15%)、Na2O(5-12%)等氧化物配比决定热膨胀系数;重金属迁移量(Pb≤0.8mg/dm²、Cd≤0.07mg/dm²)需符合食品接触材料标准;密着强度(≥15MPa)、耐酸失重(≤0.5mg/cm²)及耐温急变(ΔT≥200℃)等关键性能指标需通过专项测试验证。
检测范围
本检测体系适用于:①日用搪瓷制品(餐具/炊具/浴缸),重点监控铅镉溶出量及釉面光泽度(60°角≥85GU);②工业搪瓷设备(反应釜/管道),着重分析耐化学腐蚀性(40%H2SO4浸泡240h失重≤1.2g/m²)及抗压强度(≥120MPa);③建筑装饰搪瓷板,需测定耐候性(QUV老化3000h色差ΔE≤3)及抗冲击性(1kg钢球1m跌落无裂纹);④电子级搪瓷基板,要求介电常数(1MHz≤5.2)及体积电阻率(≥1012Ω·cm)达标。
检测方法
1. 化学分析法:采用GB/T 223系列标准测定金属基材元素含量,其中碳硫分析仪精度达±0.002%;釉料主成分通过XRF结合湿法滴定验证,SiO2测定误差≤0.5%
2. 光谱技术:ICP-OES(等离子体功率1350W)可同时测定Co、Ni等密着剂元素(检出限0.1ppm);激光诱导击穿光谱(LIBS)用于涂层厚度在线监测(分辨率±3μm)
3. 微观表征:扫描电镜-能谱联用(SEM-EDS, 加速电压20kV)分析界面扩散层(典型厚度10-30μm);X射线衍射(XRD, CuKα辐射)鉴定釉层晶相组成
4. 性能测试:按ISO 2747进行密着强度三点弯曲试验;ASTM C385规范热震试验程序;EN 14483-4规定孔隙率电化学测试法
检测仪器
1. 元素分析系统:配备波长色散XRF光谱仪(Rh靶, 4kW)、全谱直读ICP-OES(中阶梯光栅+CID检测器)及高频红外碳硫仪(恒温恒湿环境控制)
2. 结构表征平台:场发射SEM(分辨率1nm)配合电子背散射衍射系统(EBSD);微区XRD配备二维探测器(探测角度范围5-80°)
3. 力学测试装置:万能材料试验机(载荷精度±0.5%)集成数字图像相关系统(DIC应变测量);落锤冲击试验机(能量范围0-50J可调)
4. 环境模拟设备:步入式盐雾箱(NSS/AASS/CASS模式可切换)、氙灯老化箱(光谱匹配度≥95%)及高温高压反应釜(最高工作温度350℃)
5. 辅助分析工具:白光干涉仪测量表面粗糙度Ra(重复性±2nm);热机械分析仪(TMA)测定膨胀系数α(温度范围RT-800℃)
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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