铟粒检测

检测项目

铟粒质量评价体系包含四大核心检测模块：

纯度分析：主元素铟含量测定（≥99.99%），重点管控Ag、Cu、Fe、Zn等14种杂质元素

物理性能测试：密度（7.31±0.05 g/cm³）、维氏硬度（0.8-1.0 HV）、熔点（156.6±0.5℃）等基础参数

微观结构表征：晶粒尺寸分布（SEM分析）、晶体取向（EBSD检测）、位错密度（TEM观测）

表面质量评估：氧化层厚度（XPS深度剖析）、表面粗糙度（白光干涉仪）、异物附着物（EDAX能谱）

检测范围

适用对象涵盖不同形态与规格的铟制品：

形态分类：球状颗粒（粒径0.5-3mm）、片状颗粒（厚度50-200μm）、高纯锭材（纯度≥5N）

：半导体键合材料（纯度≥4N8）、ITO靶材原料（Fe≤5ppm）、低温焊料合金（Sn-In共晶体系）

特殊制品：核级铟中子吸收体（Cd含量控制）、真空镀膜用蒸发料（孔隙率≤0.3%）

检测方法

元素定量分析：

ICP-MS法（检出限0.01ppb）执行GB/T 12690-2022标准

GD-MS法用于5N级以上高纯铟分析

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阿基米德法测定密度（ISO 1183-1:2019）

差示扫描量热法（DSC）测定熔点（ASTM E794-06）

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EBSD电子背散射衍射分析晶界特征

XRD全谱拟合计算晶格常数（精度±0.0001nm）

检测仪器

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Thermo iCAP RQ ICP-MS（质量分辨率0.3amu）

Horiba GD-Profiler2辉光放电质谱仪

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Mettler Toledo DSC3+差示扫描量热仪（温度精度±0.1℃）

Mitutoyo HM-220维氏硬度计（载荷范围10-1000gf）

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TESCAN MIRA4场发射扫描电镜（分辨率1nm@15kV）

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（2θ精度±0.0001°）

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SBT Science真空熔样系统（氧含量＜1ppm）

Agar自动抛光机（表面粗糙度Ra≤0.02μm）

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。