项目数量-9
碳酸铝成分检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-04-25
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
主成分定量分析
测定碳酸铝中Al₂(CO₃)₃·nH₂O的有效含量,包括铝元素(Al³+)与碳酸根(CO₃²⁻)的摩尔比验证。通过热重分析确定结晶水含量(n值),误差范围控制在±0.5%以内。
杂质元素筛查
检测Fe³+、Ca²+、Mg²+等金属阳离子残留量,限定指标参照GB/T 23945-2022标准要求。重点监控Cl⁻、SO₄²⁻等阴离子杂质浓度,采用离子色谱法确保检出限达到0.1ppm级别。
物相结构鉴定
通过X射线衍射分析确认样品晶型结构特征谱图,匹配JCPDS标准卡片库数据。扫描电镜观察微观形貌特征时需保持加速电压15kV以上以获得清晰二次电子像。
热稳定性测试
采用同步热分析仪测定分解温度区间,升温速率设定为10℃/min(N₂气氛)。记录50-600℃范围内的DSC曲线特征峰位置及TG失重百分比。
检测范围
工业原料级产品
适用于化工企业生产的工业级碳酸铝原料批检,重点监控主含量波动及重金属超标问题。典型样品包括粒径分布50-200μm的粉体材料。
实验室合成样品
针对科研机构开发的改性碳酸铝材料进行全组分分析,包含新型络合结构的FT-IR光谱验证及BET比表面积测定。
环境监测样本
检测土壤或水体中碳酸铝系污染物的迁移转化形态时,需配合pH值调节装置进行前处理操作。
电子级材料验证
半导体行业用高纯碳酸铝需执行ASTM E265-2020标准规定的61项痕量元素测试方案。
检测方法
X射线衍射法(XRD)
使用Cu-Kα辐射源(λ=1.5406Å),扫描角度范围5-80°(2θ),步长0.02°。通过Rietveld精修计算晶胞参数偏差值应小于0.005nm。
电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
样品经硝酸微波消解后采用径向观测模式测定Al元素特征谱线396.152nm。校准曲线相关系数R²≥0.9995时判定有效。
热重-差示扫描量热联用法(TG-DSC)
氧化铝坩埚装样量控制在8±0.5mg范围,参比物使用α-Al₂O₃空白样。气体流量设定为50mL/min以消除浮力效应影响。
离子色谱法(IC)
阴离子分离选用AS11-HC色谱柱(4×250mm),淋洗液梯度程序:0-10min保持20mM KOH,10-20min升至35mM。
检测仪器
X射线衍射分析仪
配置高速阵列探测器(D/teXT Ultra),角度重现性±0.0001°,配备高温附件可实现原位相变研究(最高1600℃)。
全谱直读ICP光谱仪
采用中阶梯光栅分光系统搭配CID检测器,波长范围165-900nm覆盖全部金属元素特征谱线。
同步热分析系统
集成TG/DSC信号同步采集模块,温度精度±0.1℃,配备自动进样器可连续处理32个样品。
场发射扫描电镜
配备能谱仪(EDS)实现微区成分分析,电子束分辨率达到1.0nm@15kV工作模式。
激光粒度分析仪
采用米氏散射理论计算粒径分布曲线,测量范围覆盖0.02-2000μm区间。
傅里叶变换红外光谱仪
配置ATR附件实现固体样品无损检测,波数精度优于0.01cm⁻¹。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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