微晶石检测

检测项目

微晶石质量评价体系包含六大核心指标：

物理性能：密度（≥2.6g/cm³）、莫氏硬度（5-6级）、抗压强度（≥120MPa）、断裂模数（≥35MPa）

表面特性：光泽度（镜面≥95GU）、耐磨度（≤0.15g/cm²）、防滑系数（干态≥0.6）

化学稳定性：耐酸性（15%HCL溶液浸泡24h失重≤0.2g/m²）、耐碱性（10%NaOH溶液浸泡24h无腐蚀）

热学性能：线性热膨胀系数（20-100℃区间≤7×10⁻⁶/℃）、抗热震性（150℃温差循环5次无裂纹）

安全指标：放射性核素限量（内照射指数≤1.0；外照射指数≤1.3）

微观结构：晶相组成比例（玻璃相≤40%，主晶相透辉石≥55%）

检测范围

检测方法

密度测定法

采用阿基米德原理进行水浸法测试：试样干燥至恒重后测量水中质量与空气中质量差值，计算体积密度值。

耐磨性试验

依据GB/T 3810.7规范操作：使用Φ100mm钢轮加载12.5N压力，以75转/分钟转速摩擦150转后测定质量损失。

XRD物相分析

采用Cu-Kα辐射源（λ=1.5406Å），扫描范围10°-80°(2θ)，步长0.02°，通过Jade软件进行Rietveld全谱拟合定量分析。

耐化学腐蚀测试

配置标准试剂溶液（HCL pH=1；NaOH pH=13），试样浸泡(25±2)℃环境168小时后测定表面失光率和质量变化率。

放射性检测流程

使用高纯锗γ谱仪测量镭-226、钍-232、钾-40比活度，按GB 6566公式计算内/外照射指数。

检测仪器

XRD系统

配备θ/θ测角仪及PIXcel3D探测器，角度重现性±0.0001°，满足ASTM D5380标准要求。

ICP-OES

轴向观测系统配合中阶梯光栅分光器，波长范围165-900nm，检出限达ppb级。

SEM-EDS联用系统

场发射电子枪实现3nm分辨率，配合50mm²硅漂移探测器完成微区元素分析。

FTIR光谱仪

采用DTGS检测器覆盖7800-350cm⁻¹波段，分辨率优于0.4cm⁻¹。

LFA467 HyperFlash

基于闪光法原理测量热扩散系数（精度±3%），结合DSC测得比热容计算导热系数。

白光干涉仪

垂直分辨率0.1nm，横向分辨率0.5μm，可重建表面三维形貌并计算Sa/Sz粗糙度参数。

图1：典型微晶石XRD图谱解析示例

(注：实际文档中应插入对应图表)

注：所有测试数据需按ISO/IEC17025要求进行测量不确定度评定（扩展因子k=2），环境条件控制为温度(23±2)℃、湿度(50±10)%RH。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。