SD卡检测

检测项目

SD卡质量评估涵盖七大核心指标：

物理尺寸精度：验证长宽厚度公差是否控制在±0.15mm范围内

接口电气特性：测试引脚阻抗（50Ω±5%）、信号上升时间（≤5ns）及电压容差（3.3V±10%）

实际存储容量：通过二进制填充法校验标称容量真实性

持续读写性能：测量Class10/UHS-I/UHS-II等级对应的MB/s传输速率

数据完整性：执行10^12次读写循环后的误码率（BER≤1E-12）

环境适应性：-25℃至85℃温变循环测试后的功能稳定性

文件系统兼容性：验证FAT32/exFAT/NTFS格式的跨平台识别能力

检测范围

检测方法

标准化检测流程包含三个阶段：

预处理阶段

执行全盘低级格式化（Low-Level Format）消除残留数据影响

在23±2℃/45%RH环境下静置24小时平衡温湿度

基础性能测试阶段

使用ATTO Disk Benchmark进行4KB-64MB块大小的随机/连续读写测试

通过H2testw实施全容量写入校验循环（≥3次）验证存储稳定性

应用CrystalDiskMark测量QD32队列深度下的IOPS值

极限环境测试阶段

在温控箱内进行-25℃冷启动测试与85℃高温持续写入测试

使用振动台模拟5Hz-500Hz/5Grms随机振动环境下的数据完整性

实施5000次插拔循环后的接口接触阻抗测量（≤50mΩ变化量）

检测仪器

协议分析仪（Keysight U4154B）

- 支持SD4.0/6.0协议解码

- 实时捕获CMD线信号时序（分辨率0.1ns）

- CRC7校验错误率统计功能

存储介质测试系统（ULINK DFM300）

- 并行控制64个SD卡插槽

- 自动执行JESD218/JESD219标准测试流程

- 内置NAND Flash坏块映射分析模块

环境试验箱（ESPEC SH-661）

- -70℃~+150℃温度控制精度±0.5℃

- 10%~98%RH湿度调节能力

- IP6X防尘等级测试仓

接触阻抗测试仪（Agilent 34420A）

- 四线法测量接触电阻（分辨率0.01mΩ）

- 自动记录插拔过程中的阻抗变化曲线

- SD接口9pin同步扫描功能

高速示波器（Tektronix DPO73304SX）

- 33GHz带宽/200GS/s采样率

- SD总线眼图分析套件

- 信号抖动测量精度±1ps

机械寿命试验机（IMV K2-200）

- 轴向插拔力测量范围0-50N

- 循环频率可调（1-60次/分钟）

- SD卡槽磨损度光学监测系统

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。