导热硅脂检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-04-29  

导热硅脂作为电子设备散热关键材料,其性能需通过标准化检测确保可靠性。本文聚焦热导率、热阻、粘度等核心指标分析,依据ASTMD5470、GB/T10297等行业标准展开论述,涵盖材料成分验证、长期稳定性测试及介电性能评估等关键环节。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

导热硅脂的核心检测项目包括热导率测定(0.5-15 W/m·K范围)、接触热阻测试(界面阻抗≤0.1 cm²·K/W)、粘度特性分析(典型值100-500 Pa·s)、挥发分含量检测(≤3%质量损失)、介电强度验证(≥10 kV/mm)以及长期老化试验(85℃/85%RH环境1000小时)。其中相变温度测试需精确控制温升速率(2℃/min),固化收缩率测量要求分辨率达0.1μm级。

检测范围

检测对象涵盖工业级(含银量30-80%)、电子级(粒径≤50μm)及特种硅脂(耐温-60℃至300℃)。具体包括:

1. 高导热型(≥5 W/m·K)碳基复合硅脂

2. 低热阻型(≤0.05 cm²·K/W)纳米填充硅脂

3. 绝缘型(体积电阻率≥1×10¹³ Ω·cm)

4. 耐候型(UV照射500小时性能衰减≤15%)

应用领域涉及CPU/GPU散热模组、新能源汽车电控系统、大功率LED照明模块及航空航天电子设备。

检测方法

依据国际通行标准建立测试体系:

- 热导率采用ASTM D5470稳态热流法,试样厚度控制在0.5±0.02mm

- 热阻测试执行MIL-STD-883 Method 1012.1规范

- 粘度特性按ASTM D2196使用Brookfield RV系列粘度计测定

- 挥发分测试遵循ISO 11358标准进行TGA分析(升温速率10℃/min至250℃)

- 介电强度依据IEC 60243-1采用三电极系统测试

- 加速老化试验参照JEDEC JESD22-A101执行温湿度双85试验

检测仪器

关键设备配置包括:

1. Netzsch LFA 467 HyperFlash激光闪射导热仪(精度±3%)

2. Kyowa TRS-02接触热阻测试系统(压力范围0-5MPa)

3. TA Instruments Q800动态机械分析仪(温度扫描速率0.1-20℃/min)

4. Malvern Mastersizer 3000粒径分析仪(测量范围0.01-3500μm)

5. Agilent 4294A精密阻抗分析仪(频率范围40Hz-110MHz)

辅助设备包含恒温恒湿箱(温度波动±0.5℃)、真空脱泡装置(真空度≤10Pa)及红外热像仪(热灵敏度0.03℃)。所有仪器均通过CNAS校准认证,测量不确定度符合JJF 1059规范要求。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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