XRD应力性能技术探测检测

检测项目

XRD应力性能技术主要针对以下关键指标进行量化分析：

残余应力分布：测定材料加工成型或服役过程中产生的宏观/微观残余应力场

应力梯度特征：解析沿深度方向的应力变化规律（通常可达50μm深度）

晶体结构参数：同步获取晶格常数、择优取向度等微观结构信息

相变诱导应力：监测多相材料中不同物相间的内应力交互作用

动态应力响应：结合原位加载装置实现外载作用下的实时应力监测

检测范围

检测方法

θ-2θ扫描法：固定入射角与衍射角同步扫描模式，适用于各向同性材料的表面法向应力测定

sin²ψ法：通过改变样品倾角ψ获取多组衍射数据，建立应变-角度数学模型求解三维应力张量

侧倾法（Ω法）：采用平面内旋转方式消除几何阴影效应，特别适合粗糙表面或复杂形状试样分析

能量色散法：利用多波长X射线同步采集不同晶面衍射信号，提升测试效率与空间分辨率（可达0.1mm²）

全场成像法：结合二维探测器与同步辐射光源实现微区应力分布快速成像（分辨率≤5μm）

检测仪器

高分辨率X射线衍射仪（HR-XRD）

- X射线源：Cu靶Kα辐射（λ=0.15406nm），功率≥3kW

-测角仪精度：角度重复性≤0.0005°

-探测器系统：闪烁计数器+石墨单色器组合配置

微区应力分析仪（μ-XSA）

-聚焦光路：多层膜镜+毛细管透镜复合聚焦（光斑尺寸≤50μm）

-多维运动平台：XYZ三轴定位精度±1μm

-真空环境模块：10⁻³Pa级低真空腔体消除空气散射干扰

原位加载衍射系统（In-situ XRD）

-力学加载单元：最大载荷20kN（拉伸/压缩/弯曲复合模式）

-高温模块：RT-1600℃可控温加热台（控温精度±1℃）

-同步采集系统：高速光子计数探测器（采集频率≥100Hz）

便携式现场检测仪（Field-XRD）

-微型X射线管：W靶微焦斑源（尺寸≤100μm）

-固态探测器：硅漂移室SDD（能量分辨率＜140eV）

-防护设计：铅屏蔽层+剂量报警双重安全机制

*注：所有仪器均需定期进行NIST标准样品校准（如SRM660c LaB6），并通过Rietveld精修算法验证数据准确性。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。