金属精密含量检测

检测项目

金属精密含量检测主要针对以下三类成分进行定量分析：

主量元素测定：铁基合金中的Fe/Cr/Ni/Mo含量测定；铝合金中Al/Si/Cu/Mg配比分析；铜合金中Cu/Zn/Sn/Pb组分验证

微量元素控制：高温合金中Ta/Re/Hf的ppm级检测；钛合金中O/N/H间隙元素测定；贵金属中的Pt/Pd/Rh比例验证

有害元素筛查：RoHS指令管控的Cd/Pb/Hg/Cr⁶⁺；航空材料限制的Bi/Sb/Te；核工业用材中的U/Th放射性元素

痕量杂质分析：半导体靶材中≤1ppb级Na/K污染检测；超纯金属中非金属夹杂物（S/P/O）测定

检测范围

检测方法

光谱分析法

电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：适用于0.001%-10%含量范围的多元同步测定

火花直读光谱（Spark-OES）：用于现场快速分析黑色金属及有色金属主成分

辉光放电光谱（GD-OES）：实现镀层材料的深度方向成分剖析

质谱分析法

电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：痕量元素（ppb级）及同位素比值测定

二次离子质谱（SIMS）：表面微区成分分析与深度剖面测量

电化学分析法

库仑滴定法：高精度测定铜/银等贵金属纯度（精度达99.999%级）

极谱分析法：重金属污染物（Cd/Pb等）的微量检测

X射线分析法

能量色散X荧光光谱（EDXRF）：无损快速筛查RoHS受限物质

波长色散X荧光光谱（WDXRF）：高精度主量元素定量分析

经典化学分析法

重量法测定钨/钼等高熔点金属含量

容量法进行钢铁中碳硫联合测定

检测仪器

直读光谱仪（ARL 4460）

配置真空紫外光学系统，可检测C/P/S等轻元素，分析时间≤30秒

四极杆ICP-MS（Agilent 7900）

配备三重接口技术，实现从ppt到百分含量的宽动态范围检测

场发射电子探针（JEOL JXA-8530F）

束斑尺寸1μm级，支持B-U全元素面分布分析及线扫描

辉光放电质谱仪（Nu Astrum）

检出限达0.001ppm，支持块状样品直接分析无需前处理

同步热分析仪（NETZSCH STA 449 F5）

TGA-DSC联用系统实现高温下成分演变过程监测

激光诱导击穿光谱（LIBS）系统

便携式设计支持现场原位检测，适用于大型构件成分核查

微波消解系统（CEM MARS 6）

40位高通量消解平台，满足大批量样品前处理需求

惰性气体熔融仪（LECO ONH836）

采用脉冲加热技术测定金属中O/N/H气体元素含量

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。