X射线衍射物相分析检测

检测项目

X射线衍射物相分析主要涵盖以下检测项目：

物相组成鉴定：通过衍射图谱比对国际标准PDF卡片库（ICDDPDF-2/PDF-4+），确定样品中存在的结晶相种类

多相混合物的定量分析：采用Rietveld全谱拟合或参考强度比法（RIR）计算各物相的相对含量

晶粒尺寸与微观应变测定：基于Scherrer公式或Williamson-Hall法分析衍射峰宽化效应

结晶度测定：通过非晶散射背景与结晶衍射峰面积比计算半结晶材料的结晶度

择优取向分析：采用极图测量或织构系数法表征多晶材料的晶体取向分布

高温/低温原位相变研究：配置变温附件进行温度依赖性的物相演变监测

检测范围

本方法适用于各类具有长程有序结构的晶体材料分析：

金属材料：合金相组成、残余奥氏体含量、金属间化合物鉴定

无机非金属材料：陶瓷烧结体相变过程、水泥水化产物分析、玻璃陶瓷微晶化程度测定

矿物地质样品：岩石矿物组成鉴定、黏土矿物定量分析、矿石选冶过程相变监控

高分子材料：聚合物晶型鉴别、共混物相容性研究、纤维取向度测定

纳米材料：纳米颗粒尺寸分布计算、核壳结构表征、量子点晶体结构解析

药物与化学品：多晶型鉴别、原料药纯度验证、药物-辅料相容性研究

检测方法

标准检测流程包含以下关键步骤：

样品制备：

粉末样品需研磨至1-10μm粒度范围并过325目筛网

块状样品需保证测试面平整度≤5μm且无择优取向

薄膜样品需控制厚度在X射线穿透深度范围内（通常5-50μm）

数据采集：

采用θ-2θ联动扫描模式覆盖5-90（2θ角）测量范围

设置步长0.02-0.05，每步停留时间1-5秒保证信噪比≥50:1

根据样品特性选择CuKα（λ=1.5406）或CoKα（λ=1.7902）辐射源

数据处理：

扣除Kα₂辐射影响并进行洛伦兹-偏振因子校正

采用全谱拟合软件（如TOPAS、Jade）进行Rietveld精修计算

建立校准曲线法或内标法实现定量分析误差≤3%

结果验证：

通过重复性测试确认RSD＜2%

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。