三氧化二铝含量检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-05-30  

检测项目纯度测定、杂质元素分析(Fe₂O₃/SiO₂/TiO₂等)、灼烧减量、松装密度、振实密度、比表面积、粒径分布(D10/D50/D90)、晶型结构(α相/γ相)、游离氧化铝含量、酸溶物含量、碱溶物含量、重金属迁移量(Pb/Cd/As/Hg)、氯离子含量、硫酸盐含量、钠钾钙镁杂质总量、灼烧白度值、折射率测定、莫氏硬度、热膨胀系数、导热系数、介电常数、抗压强度、抗折强度、体积密度、孔隙率测定、吸水率测试、化学稳定性(酸/碱环境)、高温相变温度点、电导率测试、磁性物质残留量检测范围高纯氧化铝粉末、陶瓷基板

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

纯度测定、杂质元素分析(Fe₂O₃/SiO₂/TiO₂等)、灼烧减量、松装密度、振实密度、比表面积、粒径分布(D10/D50/D90)、晶型结构(α相/γ相)、游离氧化铝含量、酸溶物含量、碱溶物含量、重金属迁移量(Pb/Cd/As/Hg)、氯离子含量、硫酸盐含量、钠钾钙镁杂质总量、灼烧白度值、折射率测定、莫氏硬度、热膨胀系数导热系数介电常数、抗压强度、抗折强度、体积密度、孔隙率测定、吸水率测试、化学稳定性(酸/碱环境)、高温相变温度点、电导率测试、磁性物质残留量

检测范围

高纯氧化铝粉末、陶瓷基板原料、耐火砖制品、催化剂载体材料、蓝宝石晶锭前驱体、锂电池隔膜涂层材料、人工关节陶瓷部件、集成电路封装填料、高温窑炉内衬材料、金属表面处理剂原料、光学玻璃添加剂原料、分子筛合成原料、磨料磨具基材原料、色谱柱填料基材原料、3D打印陶瓷粉末原料、防火涂料添加剂原料、石油裂解催化剂原料、污水处理吸附剂原料、医用生物陶瓷原料、半导体抛光液原料、高温胶粘剂填料原料、绝缘陶瓷套管原料、热喷涂粉末原料、核反应堆控制棒材料原料、航天器隔热瓦基材原料、汽车尾气净化催化剂载体原料、LED衬底材料前驱体原料、太阳能电池背板涂层材料原料

检测方法

X射线荧光光谱法(XRF):通过测量样品受激发产生的特征X射线强度进行定量分析,适用于固体粉末快速无损检测。
电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES):采用高温等离子体激发元素特征谱线进行多元素同步测定,检出限可达ppm级。
重量分析法:通过EDTA络合滴定分离沉淀后高温灼烧恒重计算含量值。
原子吸收光谱法(AAS):针对特定金属杂质元素的痕量分析。
激光粒度分析法:基于米氏散射原理测定粉体粒径分布参数。
BET氮气吸附法:通过多层吸附理论计算比表面积数值。
X射线衍射法(XRD):利用布拉格方程解析晶体结构及物相组成。
热重-差示扫描量热联用法(TG-DSC):同步测定材料热稳定性与相变温度。

检测标准

GB/T6609.1-2023氧化铝化学分析方法第1部分:三氧化二铝含量的测定EDTA络合滴定法
ISO2829:2020铝生产用氧化铝三氧化二铝含量的测定X射线荧光光谱法
ASTME1915-2019用波长色散X射线荧光光谱法测定金属及其他无机材料的标准试验方法
JISK0102:2022工业用水及废水试验方法铝化合物测定章节
GB/T3045-2017普通磨料碳化硅化学分析方法
ISO16169:2018精细陶瓷(高级陶瓷)-块体陶瓷中主成分的化学分析
YS/T534.1-2020氢氧化铝化学分析方法EDTA滴定法测定三氧化二铝量
GB/T17413.1-2010锂矿石化学分析方法三氧化二铝量的测定
DINEN1019:2005饮用水处理用化学品-硫酸铝
GB/T1871.1-2022磷矿石和磷精矿中三氧化二铝含量的测定EDTA容量法

检测仪器

波长色散X射线荧光光谱仪:配备Rh靶X光管及晶体分光系统,实现0.01%级精度元素定量分析。
全谱直读ICP光谱仪:配置垂直炬管与中阶梯光栅分光系统,支持70余种元素同步检测。
热重-差热同步分析仪:采用双炉体对称结构设计,温度控制精度0.1℃。
激光粒度分析仪:配备532nm固态激光器及多元探测器阵列系统。
全自动比表面及孔隙度分析仪:基于静态容量法原理实现0.0001m/g分辨率测量。
四圆X射线衍射仪:配置CuKα辐射源及二维探测器系统。
微波消解工作站:采用高压密闭消解罐进行样品前处理。
紫外可见分光光度计:配备积分球附件实现固体粉末反射率测试。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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