自动光学aoi检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-07-11  

自动光学检测(AOI)通过高精度成像系统实现非接触式表面缺陷分析,应用于电子制造、材料科学等领域。核心检测项目包括元件偏移、焊点质量、异物残留等关键参数,严格遵循国际光学检测标准规范,确保微米级精度缺陷识别。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

元器件偏移检测:测量贴装位置偏差,精度±0.01mm,允许偏移阈值<5%元件尺寸

焊锡桥接分析:识别相邻引脚间短路,最小检测桥接宽度10μm,电压对比灵敏度0.1V

焊球完整性检测:检验BGA/CSP焊球形态,球径测量精度±2μm,坍塌高度允差±15%

引脚共面性测试:检测IC引脚水平度,共面度误差范围0-100μm,分辨率0.5μm

标记点识别:定位基准点坐标,OCR字符识别精度99.98%,定位重复精度±3μm

异物污染检测:识别粉尘/纤维残留,最小检出尺寸5μm,支持20类污染物数据库比对

涂层均匀性分析:测量阻焊/镀层厚度,厚度检测范围0.1-500μm,梯度变化识别率95%

划痕缺陷捕捉:表面微裂纹检测,最小识别宽度2μm,长度阈值>50μm自动报警

极性方向验证:元件方向角测量,角度偏差检测精度±0.5°,支持360°全景分析

尺寸合规检验:长宽尺寸公差检测,测量误差±0.5μm/m,符合GD&T几何规范

透光率测试:光学材料透射率测量,光谱范围380-780nm,分辨率0.1%

颜色差异分析:Lab色空间比对,ΔE容差范围0.1-5.0,符合CIEDE2000标准

检测范围

印刷电路板(PCB):检测导通孔塞孔、线路断路、铜箔腐蚀等制造缺陷

半导体封装:晶圆切割道检测、芯片贴装偏移、金线焊点形貌分析

SMT贴装元件:电阻电容极反、QFP引脚变形、BGA焊球冷焊等工艺问题

液晶显示面板:亮点/暗点识别、Mura缺陷检测、ITO线路断线分析

光伏电池片:隐裂检测、栅线断点、镀膜不均等影响光电效率的缺陷

精密接插件:接触簧片共面度、镀层孔隙率、插针垂直度测量

汽车电子模块:ECU板件虚焊、连接器插接状态、密封胶涂覆检测

医疗器件:内窥镜镜片划痕、手术器械表面光洁度、植入物尺寸合规性

光学镜头:镜片崩边检测、镀膜损伤、中心厚度偏差测量

锂电池极片:涂层脱落、毛刺检测、卷对齐度分析,精度±0.1mm

微型电机组件:换向器焊点质量、转子动平衡标记、碳刷磨损评估

晶圆级封装:TSV通孔填充度、凸点高度一致性、硅片边缘崩缺检测

检测标准

IPC-A-610H电子组装可接受性标准

IPC-TM-650测试方法手册第2.5.1节光学检测规范

ISO2859-1:1999计数抽样检验程序

JEDECJESD22-B108A芯片封装外观检验标准

IEC61189-5:2019电子材料测试方法-第5部分:光学特性

GB/T4677-2002印刷板表面缺陷检测指南

GB/T34342-2017液晶显示器件外观缺陷检验方法

ASTMF314-78光学元件表面缺陷标准检测法

SEMIPV22-0812光伏硅片缺陷分类标准

GB/T6461-2002金属基体上金属覆盖层厚度测量

检测仪器

高分辨率线阵相机:配置5000万像素CMOS传感器,实现12μm/pixel成像精度,用于微细缺陷捕捉

多角度环形光源系统:提供8通道可编程LED照明,支持明场/暗场/同轴光切换,增强缺陷对比度

自动对焦显微镜头:电动变焦范围0.5X-20X,景深补偿精度±1μm,适应不同高度元件检测

运动控制平台:直线电机驱动XY轴,重复定位精度±1.5μm,支持600×600mm检测幅面

三维激光轮廓仪:采用三角测量原理,Z轴分辨率0.05μm,用于焊点高度、共面性测量

红外热成像模块:3-5μm波段热灵敏度0.02℃,识别元器件虚焊导致的局部温差异常

光谱分析单元:配置光栅分光系统,波长精度±0.2nm,实现材料成分无损鉴别

图像处理服务器:搭载GPU加速架构,处理速度120fps@4K,支持深度学习缺陷分类

偏振检测组件:可调偏振角0-180°,识别应力双折射和表面微裂纹

自动标定靶标:内置NIST可溯源标准板,定期进行像素尺寸校准,确保测量溯源性

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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