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半导体电压比较器基本检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-07-16
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
输入失调电压:测量零输入时输出端电压偏移量,典型值±1mV
输入偏置电流:检测输入端流入/流出电流,范围1nA~10μA
响应时间:记录输入阶跃信号后输出状态转换时长,包含传播延迟≤50ns
电源电流:测定静态工作条件下器件功耗,精度±0.1μA
开环增益:验证直流放大倍数,测试条件Vcc=5V
共模抑制比:评估共模信号干扰抑制能力,典型值80dB
电源抑制比:检测电源波动对输出影响,测量范围60dB
输出饱和电压:测试高低电平最大驱动能力,负载电流10mA
输入电压范围:确定器件正常工作输入阈值,±15V满量程
温度漂移系数:监控-40℃~125℃范围内参数变化率,单位μV/℃
等效输入噪声:表征最小可检测信号强度,频谱密度10nV/√Hz
输出上升/下降时间:测量10%~90%电平转换速率,标准负载50pF
检测范围
窗口比较器电路:双阈值电压检测装置
模数转换器前端:高速信号过零检测单元
电压监控模块:电源异常状态侦测系统
波形整形电路:方波信号生成器件
电机驱动控制:过流保护触发单元
电池管理系统:充电状态检测前端
工业传感器接口:阈值可编程信号调理模块
仪器仪表前端:精密测量触发电路
通信设备:信号幅度甄别单元
汽车电子:ECU电压监测保护电路
医疗设备:生理信号阈值报警装置
消费电子:电源管理状态指示单元
检测标准
依据IEC60747-5半导体分立器件测试规范
JB/T7488运算放大器测试方法
参照MIL-STD-883方法3015输入特性测试
GB/T4589.1半导体器件机械气候试验
采用JESD22-A108温度循环加速试验
遵循AEC-Q100汽车电子验证标准
执行GB/T17574集成电路电气参数测试
依据IEC62374半导体器件电离辐射试验
采用JEDECJESD78锁存效应测试
参照ISO16750道路车辆电气环境要求
检测仪器
高精度示波器:带宽≥1GHz,支持时间参数自动测量
参数分析仪:提供四象限IV扫描,电流分辨率100fA
程控电源:电压精度0.05%,纹波<1mVpp
温度试验箱:温控范围-65℃~150℃,梯度3℃/min
低噪声信号源:输出幅度±20V,失真度<0.01%
半导体特性分析系统:集成曲线追踪与参数提取
逻辑分析仪:多通道状态捕获,时序分辨率100ps
频谱分析仪:基底噪声-150dBm,频率范围40GHz
静电放电发生器:接触放电电压±8kV,符合IEC61000
机械振动台:三轴振动控制,频率范围5Hz~2kHz
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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