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二极管反向恢复分析检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-08-16
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
反向恢复时间:测量二极管从正向导通切换到反向截止时,反向电流恢复到指定百分比所需的时间。具体检测参数包括典型值范围50ns至500ns,测试条件如IF=1A、VR=100V。
反向恢复电荷:通过积分反向电流曲线计算的总电荷量。具体检测参数如10nC至100nC,影响开关损耗效率。
反向峰值电流:反向恢复过程中达到的最大电流幅度。具体检测参数如0.1A至5A,取决于di/dt速率200A/μs至1000A/μs。
存储时间:反向恢复第一阶段从零电流到峰值电流的持续时间。具体检测参数如30ns至200ns,测试条件25C。
下降时间:反向恢复第二阶段从峰值电流下降到10%IRM的时间。具体检测参数如20ns至150ns,斜率范围0.5V/ns至2V/ns。
软恢复因子:评估反向电流下降斜率的无单位比值。具体检测参数如0.5至1.5,减少电磁干扰风险。
温度依赖性:在不同环境温度下测试trr和Qrr的变化率。具体检测参数如温度范围-40C至150C,变化系数0.5%/C至2%/C。
正向恢复时间:测量二极管从截止切换到导通的恢复时间。具体检测参数如10ns至50ns,测试VF=1V。
反向漏电流:在反向偏置下的稳态泄漏电流。具体检测参数如1μA至100μA,测试电压VR=600V。
恢复能量损失:计算Qrr乘以VR的能量损耗值。具体检测参数如1μJ至50μJ,影响开关效率。
检测范围
硅功率二极管:用于电源转换和电机驱动系统的高功率器件。
肖特基二极管:高频开关应用中的低电荷恢复器件。
快恢复二极管:优化设计的快速开关器件,适用于逆变器电路。
MOSFET体二极管:功率MOSFET内部的寄生二极管元件。
IGBT反并联二极管:IGBT模块中提供续流保护的并联器件。
整流二极管:交流到直流转换中的标准整流元件。
光伏二极管:太阳能逆变器系统中的保护与整流组件。
汽车电子二极管:汽车点火和电子控制单元的关键部件。
消费电子开关二极管:电源适配器和充电器电路中的开关元件。
工业控制器二极管:变频器和UPS系统中的功率管理器件。
检测标准
IEC60747-1:半导体器件总则和通用测试方法。
IEC60747-5:分立半导体器件和集成电路测试规范。
JEDECJESD282-B:二极管电气特性测量标准。
GB/T6571:半导体二极管测试方法国家标准。
GB/T4587:整流二极管特性测试规范。
MIL-STD-750:半导体器件环境与电气测试方法。
ISO14927:半导体分立器件测试通用指南。
检测仪器
数字存储示波器:捕获和分析反向恢复电流电压波形,时间分辨率1ns,用于测量trr和波形形状。
高带宽电流探头:测量快速瞬态电流信号,带宽100MHz,结合示波器获取IRM和Qrr参数。
可编程脉冲发生器:产生精确开关控制信号,模拟实际di/dt条件,测试恢复动态特性。
温度环境箱:调节测试环境温度范围-65C至175C,评估温度对恢复参数的影响。
双通道电源供应器:提供稳定正向和反向偏置电压,设置IF和VR测试条件。
波形分析软件:自动计算恢复时间、电荷量等参数,从捕获数据导出定量结果。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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