高频介质损耗检测

检测项目

介电损耗角正切（tanδ）：描述材料在高频电场下的能量损耗程度，是评估绝缘材料性能的核心指标，测量频率10kHz~1GHz，精度0.0001。

相对介电常数（εr）：反映材料储存电场能量的能力，与材料极化特性直接相关，测量频率10kHz~1GHz，精度0.5%。

体积电阻率（ρv）：表征材料内部绝缘性能，反映电荷在材料体积内的传导能力，测量电压100V~1000V，范围10^10~10^16Ωm。

表面电阻率（ρs）：评估材料表面绝缘性能，反映电荷在材料表面的传导能力，测量电压100V~1000V，范围10^9~10^15Ω。

介质损耗因数温度特性：分析介电损耗角正切随温度的变化规律，温度范围-50℃~150℃，步长1℃，用于评估材料在不同温度下的稳定性。

介质损耗因数频率特性：研究介电损耗角正切随频率的变化关系，频率范围1kHz~10GHz，步长10kHz，反映材料在宽频带下的损耗特性。

击穿电场强度（Eb）：测量材料耐受电场的极限值，即材料发生击穿时的电场强度，升压速率100V/s~1000V/s，精度5%。

局部放电量（PD）：检测材料内部的局部放电现象，反映绝缘材料的缺陷情况，灵敏度1pC~1000pC，用于判断材料的绝缘完整性。

介电常数温度系数（αε）：描述相对介电常数随温度的变化率，温度范围-40℃~120℃，计算精度0.001/℃。

高频介质损耗谱：记录介电损耗角正切和相对介电常数随频率的变化曲线，频率范围1MHz~10GHz，数据点数≥100点，用于全面分析材料的高频介电性能。

检测范围

电力设备绝缘材料：包括变压器油、电缆绝缘层、绝缘子、高压开关绝缘部件等，用于评估其在高频下的绝缘性能，保障电力系统的安全运行。

电子元件材料：涵盖电容器dielectric、半导体封装材料、PCB基板、电感线圈绝缘层等，确保电子元件在高频电路中的稳定性和可靠性。

通信设备材料：包括天线罩材料、同轴电缆绝缘层、微波器件介质、基站滤波器材料等，适应通信系统的高频需求，保障信号传输质量。

航空航天材料：涵盖机载设备绝缘材料、卫星天线dielectric、火箭推进系统绝缘部件、太空舱内装饰材料等，满足极端环境下的性能要求。

新能源材料：包括光伏组件封装胶膜、电池绝缘隔板、风电设备绝缘材料、电动汽车充电接口绝缘部件等，保障新能源设备的可靠性。

汽车电子材料：涵盖车载雷达dielectric、电动汽车电池绝缘材料、电子控制单元（ECU）封装材料、汽车传感器绝缘层等，适应汽车电子的高频应用。

高分子绝缘材料：包括聚氯乙烯（PVC）、聚乙烯（PE）、聚四氟乙烯（PTFE）、环氧树脂等，用于各种绝缘结构的性能评估。

陶瓷绝缘材料：涵盖氧化铝陶瓷、氮化硼陶瓷、滑石陶瓷、压电陶瓷等，用于电子元件的高频绝缘部件。

复合材料：包括纤维增强塑料（FRP）、环氧复合材料、聚酯复合材料、碳纤维复合材料等，用于航空航天和电力设备的结构绝缘。

薄膜材料：涵盖聚酰亚胺薄膜、聚酯薄膜、聚丙烯薄膜、聚醚醚酮（PEEK）薄膜等，用于电容器、变压器等电子元件的绝缘层。

检测标准

GB/T1409-2006电气绝缘材料工频、音频、高频（包括米波波长在内）相对介电常数和介质损耗因数的推荐测量方法。

ASTMD150-21固体电气绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法。

ISO10589-2018电气绝缘材料-测定介电常数和介质损耗因数的试验方法。

GB/T31838.2-2019半导体器件机械和气候试验方法第2部分：介质损耗角正切测试。

ASTMD2520-20用调谐腔法测量固体电绝缘材料的介电常数和损耗因数的标准试验方法。

ISO6271-2017电气绝缘材料-用谐振腔法测定介电常数和介质损耗因数。

GB/T5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切测试。

ASTMD3380-21用平行板法测量固体电绝缘材料的介电常数和损耗因数的标准试验方法。

ISO25498-2010石油产品-变压器油-介电损耗因数（tanδ）和相对介电常数（εr）的测定。

GB/T2900.18-2008电工术语绝缘材料。

检测仪器

高频介电谱仪：用于测量材料在高频下的介电常数和介质损耗角正切，频率范围10kHz~1GHz，支持温度控制（-50℃~150℃），可获取tanδ和εr的频率特性曲线，适用于宽频带介电性能分析。

介电损耗测试仪：专门针对介电损耗角正切的高精度测量，精度0.0001，测量频率覆盖10kHz~1GHz，用于电力设备绝缘材料的质量检测与性能评估。

高阻计：测量材料的体积电阻率和表面电阻率，电压范围100V~1000V，体积电阻率范围10^10~10^16Ωm，表面电阻率范围10^9~10^15Ω，用于评估绝缘材料的导电性能。

局部放电检测仪：检测材料内部的局部放电现象，灵敏度1pC~1000pC，可显示放电波形和幅值，帮助判断绝缘材料的缺陷情况，用于绝缘材料的可靠性评估。

击穿电压测试仪：测量材料的击穿电场强度，升压速率100V/s~1000V/s，精度5%，支持多种电极配置（如球-球、板-板），用于确定材料的绝缘极限。

温度可控介电测试系统：结合温度箱和介电测试仪，测量tanδ和εr随温度的变化，温度范围-50℃~150℃，步长1℃，分析温度对介电性能的影响，适用于温度敏感材料的检测。

谐振腔介电测试仪：采用谐振腔法测量高频下的介电常数和损耗因数，频率范围1MHz~10GHz，适用于低损耗材料（如陶瓷、微波介质）的检测，精度高。

矢量网络分析仪：通过测量S参数计算介电常数和损耗因数，频率范围100kHz~20GHz，支持宽频带测试，用于微波材料（如天线罩、滤波器）的性能评估，可获取材料的相位和幅值信息。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。