超导磁体失超探测延迟检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-18  

超导磁体失超探测延迟检测旨在评估失超探测系统对超导磁体失超信号的响应速度,涉及信号传输延迟、触发电路响应时间、数据处理延迟等关键参数,是保障超导磁体运行安全的重要检测项目。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

失超信号传输延迟时间:测量失超信号从超导线圈传感器(如电压tap)到探测模块输入端的传输延迟,测试范围0.1μs~10ms,时间分辨率≤10ps,精度0.05μs。

触发电路响应延迟时间:测量探测模块内触发电路从接收到失超信号到输出触发信号的延迟,测试范围0.5μs~5ms,精度0.1μs,支持上升沿/下降沿触发模式。

光耦隔离电路延迟时间:测量光耦隔离电路对失超信号的传输延迟(包括正向和反向),测试范围10ns~1μs,精度1ns,支持5V~24V输入电压。

ADC采样延迟时间:测量模数转换器(ADC)从接收到模拟信号到完成采样并输出数字信号的延迟,测试范围10ns~100ns,采样率≥100MSa/s,精度2ns。

FPGA逻辑处理延迟时间:测量现场可编程门阵列(FPGA)对数字失超信号的逻辑处理延迟(如信号滤波、阈值判断),测试范围5ns~50ns,逻辑速度≥100MHz,精度1ns。

上位机软件响应延迟时间:测量上位机软件从接收到探测模块输出的失超信号到显示报警信息的延迟,测试范围10ms~100ms,支持TCP/IP、USB等通信接口,精度1ms。

电缆传输延迟时间(不同长度):测量不同长度(如1m、5m、10m)传输电缆(同轴电缆、双绞线)对失超信号的传输延迟,测试范围0.5ns/m~5ns/m(同轴电缆)、1ns/m~10ns/m(双绞线),精度0.1ns/m。

温度补偿电路延迟时间:测量温度补偿电路在不同环境温度(-40℃~85℃)下的延迟变化,测试范围1ns~10ns,温度系数≤0.1ns/℃。

冗余通道同步延迟时间:测量冗余探测通道之间的同步延迟,确保多通道信号的一致性,测试范围1ns~100ns,同步精度5ns。

抗干扰电路延迟时间:测量抗干扰电路(如EMI滤波器、屏蔽层)在电磁干扰(如10V/m电场强度)下的延迟变化,测试范围0.1μs~1μs,干扰抑制比≥60dB。

检测范围

超导磁体系统:包括医疗MRI超导磁体、粒子加速器超导磁体、核聚变实验装置超导磁体等,检测其失超探测系统的延迟性能。

失超探测传感器:包括电压tap传感器、温度传感器(如PT100、光纤光栅)、磁场传感器等,评估传感器输出信号到探测模块的延迟。

失超探测模块:包括模拟信号处理模块(如放大、滤波电路)、数字信号处理模块(如FPGA、DSP),测试模块内部的延迟时间。

传输电缆:包括同轴电缆(如RG-58、RG-174)、光纤(如单模光纤、多模光纤)、双绞线等,测量不同电缆长度和类型的传输延迟。

触发电路:包括继电器触发电路、晶闸管触发电路、固态继电器触发电路等,测试触发信号的响应延迟。

隔离电路:包括光耦隔离电路、变压器隔离电路、电容隔离电路等,测量隔离电路对信号传输的延迟。

数据采集设备:包括高速ADC模块、DAQ卡(数据采集卡)、数据记录仪等,测试数据采集过程中的延迟。

逻辑处理单元:包括FPGA(现场可编程门阵列)、CPLD(复杂可编程逻辑器件)、MCU(微控制器)等,测量逻辑处理的延迟时间。

上位机软件:包括超导磁体监测软件、失超保护系统软件等,测试软件从接收到信号到显示报警的延迟。

冗余探测系统:包括双路并行探测系统、多路冗余系统等,检测冗余通道之间的同步延迟。

检测标准

ISO24083-2:2021超导磁体失超探测系统第2部分:延迟时间测试方法

GB/T39978-2021超导磁体失超探测系统技术要求

ASTMF3051-14超导设备失超探测性能测试标准

IEC61788-16:2020超导性第16部分:失超探测系统的延迟特性测量

GB/T2900.100-2017电工术语超导

ISO18183:2015超导磁体安全要求失超探测

ASTMF2372-04超导磁体失超信号传输延迟测试方法

IEC60076-11:2015电力变压器第11部分:超导变压器

GB/T30512-2014超导材料特性测量失超信号检测

DL/T1401-2015超导磁体失超保护系统技术规范

检测仪器

高速数字示波器:带宽≥1GHz,采样率≥5GSa/s,支持边缘触发延迟测量,用于捕获失超信号传输波形,精度10ps。

逻辑分析仪:通道数≥16,采样率≥1GSa/s,支持状态触发和定时分析,用于分析数字电路逻辑处理延迟,精度5ns。

时间间隔分析仪:测量范围1ns~10s,分辨率≤1ps,支持双通道同步测量,用于高精度测量信号传输延迟,精度0.1ns。

光时域反射仪(OTDR):波长1310nm/1550nm,动态范围≥35dB,采样间隔≤0.1m,用于测量光纤传输延迟及损耗,精度0.5ns/km。

高速数据采集卡(DAQ):采样率≥100MSa/s,分辨率≥12位,通道数≥4,支持实时数据处理,用于采集失超信号并计算ADC采样延迟,精度2ns。

信号发生器:输出频率1Hz~1GHz,幅度0.1V~10V,支持方波、脉冲波输出,用于产生模拟失超信号(如阶跃信号),上升时间≤1ns。

网络分析仪:频率范围100kHz~6GHz,动态范围≥100dB,支持S参数测量,用于测量电缆传输特性(如延迟、衰减),精度0.1ns/m。

可编程电源:输出电压0~60V,电流0~10A,纹波≤1mV,用于模拟电源波动对触发电路延迟的影响,精度0.01V。

温度控制器:控制范围-40℃~150℃,精度0.1℃,支持PID调节,用于测试温度补偿电路在不同温度下的延迟变化,精度0.1ns/℃。

电磁兼容(EMC)测试仪:电场强度0~100V/m,频率10kHz~1GHz,支持辐射干扰测试,用于评估电磁干扰对失超探测延迟的影响,精度1V/m。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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