元素成分能谱分析检测

检测项目

元素定性分析：确定样品中存在的元素种类，检测元素范围：C~U；检出限：0.1%（质量分数）

元素定量分析：测定样品中各元素的质量分数或原子分数，定量精度：2%（主要元素，质量分数≥10%）、5%（次要元素，质量分数1%~10%）；测量范围：0.1%~100%（质量分数）

元素分布分析（面扫描）：显示元素在样品表面的空间分布情况，空间分辨率：1μm；扫描范围：1mm1mm~100mm100mm；像素点数量：≥10001000

元素线扫描分析：沿指定线轨迹分析元素含量的变化，线扫描步长：0.1μm；数据点密度：1000点/线；扫描长度：1μm~10mm

元素点分析：对样品微小区域（如颗粒、裂纹）进行元素分析，分析点大小：1μm；检测时间：10s~60s；元素检测限：0.1%（质量分数）

轻元素分析（如C、N、O）：针对原子序数较低的轻元素进行定性定量，轻元素检测限：0.5%（质量分数）；能量分辨率：0.3eV；适用元素：C、N、O、F、Na等（原子序数≤11）

痕量元素分析：检测样品中痕量元素（如重金属、杂质），痕量元素检出限：1ppm（质量分数）；测量精度：10%（质量分数≤0.1%）；适用元素：Pb、Cd、Hg、As等

元素价态分析（如Fe⁺/Fe⁺、Cu⁺/Cu⁺）：分析元素的化学价态，判断化合物组成，价态分辨能力：0.1eV；谱峰拟合精度：R≥0.99；适用元素：过渡金属、稀土元素等

薄膜/涂层元素分析：分析薄膜或涂层的元素组成及厚度方向分布，薄膜厚度范围：1nm~10μm；深度分辨率：0.5nm；元素检测限：0.1%（质量分数）

多相材料元素分布（相分析）：结合能谱与显微结构，分析不同相的元素组成，相识别率：≥90%；相面积测量精度：3%；适用材料：金属合金、陶瓷复合材料等

元素深度分布分析（如XPS深度剖析）：通过离子刻蚀逐层分析元素沿深度方向的分布，深度分辨率：1nm；刻蚀速率：1nm/s~10nm/s；分析深度：1nm~10μm

粉末材料元素均匀性分析：检测粉末颗粒间元素组成的均匀性，颗粒分析数量：≥100个颗粒；均匀性系数：≤5%（变异系数）；适用粉末：金属粉末、陶瓷粉末等

检测范围

金属材料及合金：如钢铁、铝合金、铜合金等，分析合金元素（如Mn、Si、Mg）含量及杂质元素（如S、P、O）

陶瓷材料：如氧化锆、氮化硼、陶瓷涂层等，检测主成分（如ZrO₂、BN）及微量添加剂（如Y₂O₃、Al₂O₃）

高分子材料：如塑料、橡胶、纤维等，分析填充料（如CaCO₃、SiO₂）、阻燃剂（如Sb₂O₃、Br元素）等元素成分

半导体材料：如硅晶圆、氮化镓、半导体器件等，检测掺杂元素（如P、B、Ga）及表面污染物（如Na、K、Cl）

电子元件：如电容器、电阻器、集成电路等，分析电极材料（如Ag、Pd、Al）及内部元素分布（如dielectric层的Ti、Si）

金属腐蚀产物：如铁锈、铜绿、腐蚀膜等，鉴定腐蚀元素（如Fe、Cu、Cl）及价态（如Fe⁺/Fe⁺、Cu⁺/Cu⁺）

矿物及矿石：如铁矿石、铜矿、稀土矿物等，分析矿物组成（如Fe₃O₄、CuFeS₂）及元素品位（如Fe含量、Cu含量）

环境样品：如土壤、水体沉积物、大气颗粒物等，检测重金属（如Pb、Cd、Hg）及有害元素（如As、Cr⁶⁺）

食品及农产品：如粮食、蔬菜、食品添加剂等，分析微量元素（如Zn、Fe、Se）及污染元素（如Pb、As）

医疗器械材料：如不锈钢手术器械、钛合金植入物等，检测生物相容性元素（如Ti、Ta、Nb）及杂质（如Ni、Cr）

航空航天材料：如钛合金结构件、碳纤维复合材料等，分析强化元素（如Al、V、Mo）及缺陷区域元素（如裂纹处的O、Cl）

电池材料：如锂电池正极材料（如LiCoO₂、LiFePO₄）、燃料电池催化剂（如Pt、Ru），检测活性元素及杂质（如Fe、Cu）

检测标准

ASTME1508-11用能量色散X射线光谱法（EDS）分析金属和合金的标准指南

ISO14595:2016表面化学分析能量色散X射线光谱法通则

GB/T17359-2012微束分析能谱法定量分析

GB/T20170-2006金属材料镀层厚度的测定能量色散X射线光谱法

ISO22309:2011微束分析透射电子显微镜能量色散X射线光谱法分析薄试样的标准方法

ASTME2530-11用X射线光电子能谱法（XPS）分析材料的标准指南

GB/T30702-2014表面化学分析X射线光电子能谱指南

ISO16531:2013表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱深度剖析用电流或电流密度的测定

GB/T19500-2014金属材料镍基合金多元素含量的测定能量色散X射线荧光光谱法

ASTME2371-19用波长色散X射线光谱法（WDS）分析金属和合金的标准指南

ISO17356:2014表面化学分析能量色散X射线光谱法测定薄膜厚度的标准方法

GB/T21637-2008硅酸盐矿物的能量色散X射线荧光光谱分析方法

检测仪器

能量色散X射线光谱仪（EDS）：配备高分辨率Si(Li)或硅漂移探测器（SDD）的能谱仪，通常与扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）联用；对样品表面或薄试样中的元素进行定性定量分析，检测元素范围覆盖C~U，检出限可达0.1%（质量分数），适用于微区元素分布分析

波长色散X射线光谱仪（WDS）：采用晶体分光的高分辨率能谱仪，通常与电子探针显微分析仪（EPMA）联用；对常量（质量分数≥1%）及微量（质量分数0.1%~1%）元素进行高灵敏度定量分析，能量分辨率优于10eV，尤其适用于轻元素（如C、N、O）检测

X射线光电子能谱仪（XPS）：基于光电子发射原理的表面分析仪器，具有纳米级空间分辨率（≤10nm）；分析样品表面（≤10nm深度）元素组成、价态及化学状态，如金属氧化物的Fe⁺/Fe⁺、半导体材料的掺杂元素价态，适用于薄膜及表面污染物检测

激光诱导击穿光谱仪（LIBS）：利用激光烧蚀样品产生等离子体的光谱分析仪器，无需样品前处理；对固体、液体样品进行快速（≤1s/次）元素定性定量分析，检测元素范围覆盖Li~U，检出限可达1ppm（质量分数），适用于现场及在线检测

同步辐射X射线能谱仪（SR-EDS）：利用同步辐射光源的高亮度、高单色性X射线的能谱仪，通常与同步辐射装置联用；对痕量元素（质量分数≤0.01%）及弱信号元素（如生物样品中的微量元素）进行高灵敏度分析，检测限可达0.001%（质量分数），适用于低浓度污染物及生物样品检测

扫描电子显微镜-能量色散X射线光谱联用系统（SEM-EDS）：将SEM的高分辨率显微成像（≤1nm）与EDS的元素分析结合的系统；在观察样品显微结构（如晶粒、裂纹、缺陷）的同时，分析微区（≤1μm）元素组成及分布，适用于材料失效分析（如断裂处的元素偏析）及表征

电子探针显微分析仪-波长色散X射线光谱联用系统（EPMA-WDS）：将EPMA的高空间分辨率（≤0.1μm）与WDS的高能量分辨率结合的系统；对微小区域（如颗粒、相界、夹杂物）进行精准元素定量分析，定量精度可达1%（质量分数），适用于矿物相分析（如铁矿石中的Fe₃O₄、SiO₂相）及合金相分析（如铝合金中的Mg₂Si相）

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。