项目数量-9
真空环境导通试验检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-08-21
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
导通电阻测试:测量真空环境下导体或连接点的电阻值。具体检测参数:电阻范围10μΩ至100kΩ,精度1%。
绝缘电阻测试:评估绝缘材料在真空中的电阻性能。具体检测参数:绝缘电阻大于110^12Ω,测试电压100V至1000V。
电流承载能力测试:确定元件在规定电压下的最大安全电流。具体检测参数:电流范围1mA至100A,电压降小于0.5V。
电压降测量:分析导通路径上的电压损失。具体检测参数:电压降精度0.01V,测试电流10mA至10A。
接触电阻评估:检测连接点或开关的电阻特性。具体检测参数:接触电阻小于50mΩ,重复性误差小于5%。
介电强度验证:测试材料在高压下的击穿电压。具体检测参数:击穿电压大于500V,上升速率100V/s。
漏电流检测:测量绝缘处泄漏电流。具体检测参数:漏电流小于0.1μA,测试环境真空度小于10^-3Pa。
温度系数分析:评估电阻随温度变化特性。具体检测参数:温度系数100ppm/C,范围-50C至150C。
频率响应测试:测量高频下导通性能。具体检测参数:频率范围DC至1GHz,阻抗匹配误差小于2%。
接触耐久性试验:验证多次开关后导通稳定性。具体检测参数:循环次数大于50000次,电阻变化率小于10%。
真空度影响评估:分析不同真空下的导通特性。具体检测参数:真空度范围10^-3Pa至10^-7Pa,参数漂移小于5%。
热循环测试:检验温度变化对导通影响。具体检测参数:温度循环-40C至125C,循环次数100次。
检测范围
航天器接线系统:卫星和火箭电气连接组件在高真空下的导通性能验证。
真空断路器:高压开关设备在真空环境中的导通可靠性测试。
半导体封装器件:集成电路芯片真空密封封装导通特性评估。
医疗电子设备:如MRI机器真空腔体内导电元件性能分析。
粒子加速器部件:高能物理实验真空系统导电组件测试。
太阳能电池阵列:太空应用太阳能板真空导通性能验证。
低温超导材料:真空和低温下超导元件导通特性检测。
真空镀膜设备:导电靶材和基板在真空环境导通试验。
电子显微镜组件:真空腔体内电子枪和样品台导通性能测试。
核聚变装置部件:托卡马克真空系统等离子体控制元件导通分析。
航空航天连接器:飞机和火箭电气接口真空导通可靠性评估。
科研实验装置:高真空实验腔体导电元件性能验证。
检测标准
依据ASTMB63标准进行导体电阻测试。
依据ISO1853标准测定导电材料性能。
依据GB/T3048标准执行电线电缆电性能试验。
依据IEC60068标准进行环境测试方法。
依据MIL-STD-883标准规范微电子器件测试。
依据GB/T1410标准测量体积电阻。
依据ISO15156标准评估材料在特定环境下的性能。
依据ASTMD257标准进行绝缘电阻测量。
依据GB/T2423标准执行环境试验规程。
依据IEC60512标准进行连接器测试。
检测仪器
真空试验腔体:提供可控高真空环境,真空度可达10^-7Pa,用于模拟太空或工业真空条件。
直流电源单元:输出稳定电流或电压,精度0.05%,用于提供测试所需的激励信号。
微电阻测量仪:量程1μΩ至100Ω,分辨率0.1μΩ,用于精确测量低电阻值。
高绝缘电阻测试仪:量程10^6Ω至10^18Ω,测试电压100V至5000V,用于评估绝缘性能。
数据采集系统:采样率10kHz,通道数16,用于实时记录温度、电流电压参数。
温度控制装置:范围-196C至300C,精度0.5C,用于调控样品温度环境。
电压表单元:测量范围0.1mV至1000V,分辨率1μV,用于检测电压降和击穿特性。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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