项目数量-3473
电子衍射结构验证检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-08-21
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
晶格常数测定:确定晶体基本晶格尺寸。参数:测量精度0.001nm,覆盖立方、六方等晶系。
晶体取向分析:识别晶体的结晶方向分布。参数:角度分辨率0.1度,用于织构量化。
相鉴定:识别材料中不同晶体相。参数:基于衍射斑点位置和强度对比,匹配标准数据库。
缺陷检测:分析位错、层错等晶体缺陷。参数:分辨率达原子级别,使用高对比度成像。
应变测量:量化晶格畸变程度。参数:应变灵敏度0.1%,通过斑点位移计算。
晶粒大小测定:评估多晶材料晶粒尺寸。参数:范围1nm至100μm,基于衍射环宽度分析。
纹理分析:研究材料择优取向。参数:生成极图,量化取向分布函数。
电子衍射图样模拟:生成理论衍射模式。参数:基于原子坐标模型,验证实验一致性。
结构因子计算:推导原子散射贡献。参数:从强度数据提取,用于结构精修。
原子位置确定:定位晶胞内原子坐标。参数:精度0.01,应用动力学衍射理论。
检测范围
半导体材料:硅、锗单晶的结构验证和缺陷分析。
金属合金:铝合金、钢的相变和晶粒生长研究。
纳米颗粒:量子点、纳米线的尺寸和形状表征。
陶瓷材料:氧化铝、碳化硅的晶体结构鉴定。
薄膜材料:沉积薄膜的厚度、取向和界面分析。
生物分子晶体:蛋白质晶体的原子位置解析。
聚合物:半结晶聚合物的结晶度和相态评估。
复合材料:碳纤维增强材料的界面和取向检测。
地质样品检测。
地质样品:矿物晶体的相组成和缺陷识别。
电子器件:集成电路中金属互连的应变测量。
检测标准
ISO20203:2018电子衍射分析方法规范
ASTME112晶粒尺寸测定标准方法
GB/T13298金属显微组织检验规程
ISO16700扫描电子显微镜操作指南
GB/T18873透射电子显微镜分析技术
ASTME1508晶体取向标准测试
ISO15472表面分析标准
GB/T13301材料应变测量方法
检测仪器
透射电子显微镜:产生高能电子束,获取衍射图样。功能:高分辨率结构成像和缺陷分析。
扫描电子显微镜:扫描样品表面,结合背散射衍射。功能:晶体取向和纹理量化。
电子衍射仪:专用设备进行衍射实验。功能:精确测量衍射角度和强度参数。
能谱仪:分析X射线能谱数据。功能:元素成分与衍射模式关联。
图像分析系统:处理衍射图像数据。功能:自动斑点识别和晶格参数计算。
高分辨率透射电子显微镜:提供原子级分辨率成像。功能:直接观察原子排列和缺陷。
选区电子衍射附件:用于局部区域分析。功能:微区衍射模式采集。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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