项目数量-40536
导热硅脂性能检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-08-28
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
热导率:反映导热硅脂传递热量能力的指标。通过特定测试方法,在稳定温度条件下测量。具体检测参数包括测试温度范围20 - 100℃,测试精度±0.1W/(m·K)。
锥入度:衡量导热硅脂稠度的指标。在规定时间和温度下,将标准锥体刺入试样,测量锥入深度。检测参数为测试温度25℃,锥入度测试时间为5秒,精度0.1mm。
挥发分:体现导热硅脂在一定条件下挥发性物质含量。通过加热使挥发分逸出,称重计算含量。检测参数为加热温度150℃,加热时间2小时,精度0.01%。
击穿电压:指导热硅脂在电场作用下被击穿时的电压。使用专用设备施加电压直至击穿。检测参数为升压速率500V/s,测试电压范围1000 - 5000V。
体积电阻率:表征导热硅脂导电性能的指标。通过测量电流和电压计算得出。检测参数为测试电压100V - 1000V,测试温度23℃,精度±10%。
油离度:反映导热硅脂在使用过程中基础油析出情况。在一定温度下放置规定时间后测量析出油量。检测参数为测试温度100℃,放置时间72小时,精度0.01%。
腐蚀性:考察导热硅脂对金属等材料的腐蚀能力。将试样与金属接触一定时间后观察腐蚀情况。检测参数为接触时间24小时,温度85℃,以腐蚀程度等级判定。
氧化安定性:衡量导热硅脂抵抗氧化的能力。在规定条件下加热并通入氧气,观察氧化变化情况。检测参数为加热温度125℃,氧气压力0.5MPa,时间168小时。
胶化时间:指导热硅脂从液态转变为固态的时间。通过特定方法测试直至样品不流动。检测参数为测试温度25℃,测试压力0.1MPa,精度1分钟。
剪切强度:反映导热硅脂抵抗剪切力的能力。对特定形状试样施加剪切力直至破坏。检测参数为试样尺寸50mm×50mm×2mm,加载速率1mm/min,精度±0.1MPa。
检测范围
电子芯片散热:用于CPU、GPU等芯片散热,确保芯片在高负荷运行下有效散热,维持正常工作温度。
LED照明散热:针对LED灯具,帮助散发LED产生的热量,延长灯具使用寿命,提高发光效率。
汽车发动机散热:应用于汽车发动机相关部件,如变速箱、发动机控制单元等,保障发动机稳定运行。
太阳能电池散热:有助于太阳能电池在工作时散发热量,提高电池转换效率,延长使用寿命。
工业电子设备散热:在各类工业电子设备中,防止设备因过热损坏,保证设备可靠运行。
通信设备散热:用于通信基站、服务器等通信设备,维持设备适宜工作温度,确保通信稳定。
航空航天设备散热:在航空航天领域的电子设备等部件中发挥作用,适应复杂太空环境下的散热需求。
家电设备散热:如空调、冰箱等家电中的发热部件,通过导热硅脂散热保障家电正常运行。
电力设备散热:在变压器、电感器等电力设备中,帮助散发运行产生的热量,提高设备性能。
医疗器械散热:部分医疗器械运行时产生热量,导热硅脂可辅助散热,保障医疗设备正常工作。
检测标准
ASTM D5470:标准规定了采用稳态热流法测量导热硅脂热导率的方法。
GB/T 7190 - 2018:该标准对导热硅脂的锥入度等性能测试方法进行了规范。
ISO 760:此标准涉及导热硅脂中水分含量的测定方法。
GB/T 3141 - 2014:规定了工业液体润滑剂 ISO 黏度分类,对导热硅脂相关黏度测试有参考价值。
ASTM D2422:用于评定导热硅脂的热氧化安定性。
检测仪器
热导率测试仪:通过测量热量传递速率等参数来确定导热硅脂热导率。其功能是在不同温度条件下,对导热硅脂样本进行热导率测量,为评估导热硅脂导热性能提供数据。
锥入度仪:专门用于测量导热硅脂锥入度。它能够按照规定的测试条件,将标准锥体准确刺入导热硅脂样本,得出锥入度数值。
挥发分测试仪:可对导热硅脂进行加热,使挥发分逸出并精确称量挥发分质量。其作用是确定导热硅脂在一定条件下的挥发分含量。
击穿电压测试仪:向导热硅脂施加逐渐升高的电压,直至试样被击穿,记录击穿电压值。主要用于检测导热硅脂的电气绝缘性能方面的击穿电压指标。
体积电阻率测试仪:通过测量导热硅脂样本的电阻值,结合样本尺寸等信息计算出体积电阻率。其功能是为评估导热硅脂的导电性能提供数据依据。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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