电子显微镜形貌检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-29  

电子显微镜形貌检测是一种高分辨率成像技术,用于观察材料表面和内部微观结构。该检测提供纳米级细节分析,涵盖表面粗糙度、颗粒分布、缺陷识别等关键参数。检测过程注重样品制备、成像条件优化和参数校准,确保数据准确性和可重复性。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

表面形貌分析:观察样品表面特征和拓扑结构;具体检测参数包括分辨率优于1纳米,对比度调节范围0-100%。

颗粒大小分布:测量样品中颗粒的尺寸和分布情况;具体检测参数包括粒径范围1纳米至100微米,分布曲线拟合精度±2%。

缺陷检测:识别材料中的裂纹、孔洞和夹杂物;具体检测参数包括缺陷大小下限10纳米,密度计算误差±0.5%。

薄膜厚度测量:测定薄膜或涂层的厚度值;具体检测参数包括厚度测量范围1纳米至10微米,均匀性偏差±1%。

晶体结构分析:观察晶格排列和晶体取向;具体检测参数包括晶格常数测量精度±0.01埃,取向角分辨率0.1度。

成分分布 mapping:进行元素或相分布分析;具体检测参数包括元素种类识别数量可达10种,浓度检测限0.1原子百分比。

表面粗糙度量化:评估表面不平整度;具体检测参数包括Ra值范围0.1纳米至10微米,Rq值计算重复性±0.5%。

纳米结构表征:分析纳米级特征如纳米线和纳米颗粒;具体检测参数包括特征尺寸测量精度±0.5纳米,形状因子计算。

生物样品形貌观察:研究细胞或组织微观结构;具体检测参数包括细胞大小测量范围0.1微米至100微米,形态描述参数。

复合材料界面分析:检查界面结合和层间结构;具体检测参数包括界面厚度分辨率1纳米,结合强度间接评估。

腐蚀产物分析:检测腐蚀层形貌和组成;具体检测参数包括腐蚀产物厚度测量,元素分布 mapping。

纤维直径测量:评估纤维材料直径分布;具体检测参数包括直径范围10纳米至100微米,统计误差±1%。

检测范围

半导体器件:硅片、晶体管和集成电路的微观结构检查。

金属材料:合金、镀层和金属表面的形貌分析。

陶瓷材料:烧结体、陶瓷涂层和耐火材料的缺陷检测。

聚合物:塑料、橡胶和复合高分子材料的微观形态观察。

生物医学样品:细胞、细菌、组织切片和生物分子的形貌研究。

纳米材料:纳米颗粒、纳米管和纳米薄膜的结构表征。

电子元件:印刷电路板、焊点和电子组件的质量检查。

地质样品:矿物、岩石和土壤的微观结构分析。

食品科学:食品颗粒、纤维和添加剂的形态检测。

环境样品:粉尘、空气颗粒物和污染物的形貌识别。

药品制剂:药物颗粒、胶囊和片剂的表面特征分析。

涂料和涂层:油漆、防腐层的厚度和均匀性评估。

检测标准

ASTM E1508: 扫描电子显微镜定量分析标准实践。

ISO 16700: 微束分析-扫描电子显微镜-图像放大校准指南。

GB/T 17359: 电子探针和扫描电子显微镜分析方法通则。

ASTM F1372: 气体分配系统组件金属表面条件扫描电子显微镜分析测试方法。

ISO 10934: 光学和光学仪器-显微镜-光显微镜分辨率测量指南。

GB/T 18873: 生物显微镜检验方法。

ASTM E766: 扫描电子显微镜放大校准标准实践。

ISO 14966: 环境空气中无机纤维的扫描电子显微镜测定方法。

GB/T 23413: 纳米材料粒度分布扫描电子显微镜测定方法。

ISO 19214: 微束分析-扫描电子显微镜-能谱仪定量分析指南。

检测仪器

扫描电子显微镜:提供高分辨率表面形貌图像;功能包括二次电子成像和背散射电子成像,用于表面特征分析。

透射电子显微镜:用于内部结构和高分辨率成像;功能包括衍射模式和晶体结构分析,适用于纳米级细节。

能谱仪:进行元素定性定量分析;功能为元素 mapping 和成分检测,与电子显微镜联用。

原子力显微镜:测量表面形貌和力学性能;功能为三维形貌扫描和表面力测量,分辨率达原子级。

聚焦离子束显微镜:用于样品制备和截面分析;功能为离子 milling 和 high-resolution imaging,适用于跨截面检查。

X射线光电子能谱仪:分析表面化学组成;功能为元素价态和化学键识别,辅助形貌检测。

电子背散射衍射系统:研究晶体取向和相分布;功能为取向 mapping 和晶界分析,与SEM集成。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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