项目数量-3473
品质因数老化试验检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-09-02
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
Q值测量:评估元件在特定频率下的能量存储与损耗比率,具体检测参数包括频率范围10Hz至100MHz和Q值精度±0.5%。
绝缘电阻测试:测量元件绝缘性能在老化后的变化,具体检测参数包括电阻范围1MΩ至100GΩ和测试电压100V至1000V。
介质损耗角正切测量:分析材料介电性能退化情况,具体检测参数包括损耗角正切值0.001至1和频率响应10kHz至1MHz。
电容值漂移检测:监控电容元件在老化过程中的容量变化,具体检测参数包括电容范围1pF至100μF和漂移率±5%。
电感值稳定性测试:评估电感元件老化后的电感量变化,具体检测参数包括电感范围1μH至10H和温度系数-50ppm/°C至+50ppm/°C。
温度循环试验:模拟温度变化对元件品质因数的影响,具体检测参数包括温度范围-55°C至+125°C和循环次数100次。
湿度老化测试:评估高湿环境下元件性能退化,具体检测参数包括湿度水平85%RH至95%RH和暴露时间1000小时。
电压应力试验:施加电压应力检测元件老化特性,具体检测参数包括电压范围50V至500V和应力时间24小时。
频率响应分析:测量元件在不同频率下的阻抗变化,具体检测参数包括频率扫描10Hz至10MHz和阻抗精度±1%。
寿命预测模型验证:基于老化数据建立寿命模型,具体检测参数包括失效时间预测和置信水平95%。
检测范围
陶瓷电容器:用于高频电路中的能量存储和滤波元件。
薄膜电容器:应用于高稳定性要求的电子设备中。
电感线圈:用于电源管理和信号处理电路。
谐振器:在通信设备中提供频率稳定性。
变压器:用于能量转换和隔离的磁性元件。
射频组件:包括天线和滤波器等高频应用部件。
半导体器件:如二极管和晶体管中的寄生参数评估。
电子陶瓷材料:用于介电和压电元件的基材。
电力电子模块:包括逆变器和转换器中的被动元件。
航空航天电子系统:高可靠性环境下的元件性能监测。
检测标准
ASTM D150-11标准用于介电常数和损耗因数测量。
ISO 6721-1规范聚合物材料动态机械性能测试。
GB/T 1409-2006规定固体绝缘材料介电性能试验方法。
IEC 60250推荐电容和电感测量方法。
GB/T 1693-2007进行硫化橡胶介电常数测试。
ASTM E1641标准用于动态机械分析。
ISO 2039-1塑料硬度测试相关标准。
GB /T 5594.4-2015电子元器件可靠性试验方法。
IEC 60068-2-14环境试验第2部分:温度变化。
ASTM E2283线性热膨胀系数测量标准。
检测仪器
阻抗分析仪:用于测量元件阻抗和相位角,在本检测中执行Q值和损耗因数精确测量。
环境试验箱:模拟温度和湿度条件,在本检测中提供老化环境应力施加。
高阻计:测量高电阻值,在本检测中评估绝缘电阻变化。
LCR表:测量电感、电容和电阻参数,在本检测中监控元件参数漂移。
频谱分析仪:分析频率响应特性,在本检测中用于频率扫描和阻抗匹配评估。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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