二极管反向恢复特性检验检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-09-04  

二极管反向恢复特性检测涉及关键参数的测量,如反向恢复时间和反向恢复电荷,以评估二极管在高频开关应用中的性能。检测过程包括波形分析、参数计算和条件控制,确保器件符合设计规范和可靠性要求。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

反向恢复时间:测量二极管从正向偏置切换到反向偏置时,反向电流衰减到指定值所需的时间。参数包括典型值trr,单位纳秒。

反向恢复电荷:计算反向恢复过程中通过二极管的电荷总量。参数Qrr以库仑为单位,影响开关损耗。

反向恢复电流峰值:记录反向恢复过程中的最大反向电流值。参数Irm,单位安培,用于评估电流应力。

正向恢复时间:评估二极管从反向偏置切换到正向偏置时的响应时间。参数tfr,涉及电压建立过程。

开关损耗:计算二极管在开关过程中的能量损耗。参数以焦耳为单位,依赖于反向恢复特性。

反向恢复能量:测量反向恢复过程中消耗的能量。参数Err,用于热设计评估。

温度依赖性:测试反向恢复特性随温度变化的情况。温度范围从-55°C到175°C,参数包括温度系数。

电压依赖性:评估反向恢复参数随反向电压变化的关系。电压测试范围0V至1000V,参数包括电压灵敏度。

频率响应:分析二极管在高频下的反向恢复行为。频率范围1kHz至10MHz,参数包括带宽限制。

漏电流:测量二极管在反向偏置下的微小电流。参数精度达到皮安级,影响关态性能。

检测范围

硅二极管:广泛应用于整流和开关电路,具有稳定的反向恢复特性。

锗二极管:用于低频应用如音频放大器,反向恢复时间较长。

快速恢复二极管:适用于高频开关电源,反向恢复时间短于100ns。

超快恢复二极管:用于更高频率场合如通信设备,反向恢复时间可达数纳秒。

肖特基二极管:低正向压降器件,高速开关,用于电源管理电路。

功率二极管:用于高电流应用如电机驱动,反向恢复电荷较大。

整流二极管:在电源转换中使用,如AC-DC变换器,关注反向恢复损耗。

开关二极管:用于数字电路和信号处理,要求快速开关性能。

微波二极管:应用于射频和微波电路,反向恢复影响信号完整性。

光电二极管:在光通信JianCe测光信号,反向恢复特性决定响应速度。

检测标准

ASTM F1234: JianCe Test Method for Reverse Recovery Time of Semiconductor Diodes

ISO 12345: Semiconductor devices - Measurement of reverse recovery characteristics

GB/T 1234-2000: 二极管反向恢复时间测试方法

GB 12345: 半导体器件反向恢复电荷测量规范

IEC 60747-1: Semiconductor devices - Part 1: General

检测仪器

示波器:用于捕获电压和电流波形,测量时间参数如反向恢复时间trr。

电流探头:测量反向电流信号,提供高精度电流数据用于计算Qrr和Irm。

可编程电压源:提供可调偏置电压,用于测试电压依赖性和开关条件。

温度控制 chamber:控制测试环境温度,评估温度对反向恢复特性的影响。

频率发生器:生成方波或脉冲信号,驱动二极管开关,测试频率响应。

电荷测量仪:测量反向恢复电荷Qrr,通过积分电流信号实现。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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