粒径统计测量

检测项目

体积平均粒径：基于颗粒体积分布计算的平均粒径值，反映颗粒群体的整体尺寸水平，是表征粉体材料粒度最常用的参数之一。

数量平均粒径：通过对颗粒直接计数并计算其算术平均值获得，对于纳米材料或数量分布至关重要的应用场景具有重要参考价值。

粒度分布宽度：通常以跨度或多分散指数表示，用于量化颗粒尺寸分布的均匀程度，窄分布表明颗粒尺寸均一性好。

D10、D50、D90粒径：累积分布曲线上对应的百分数粒径，分别表示样品中10%、50%、90%的颗粒小于该粒径值，是描述分布范围的经典指标。

比表面积：单位质量颗粒的总表面积，通过粒径分布数据推算或直接测量获得，与颗粒的吸附、反应活性密切相关。

Zeta电位：测量颗粒在分散液中的表面电荷特性，用于评估胶体体系的稳定性，预测其絮凝或聚集倾向。

颗粒形貌分析：通过显微图像技术定性或定量分析颗粒的形状、长径比、圆度等几何特征，辅助理解颗粒的形成机制。

团聚体尺寸分析：专门针对初级颗粒聚集形成的二次颗粒进行测量，评估分散工艺的效果和产品的实际应用状态。

孔隙度与孔径分布

催化剂载体：多孔陶瓷或分子筛等催化剂载体材料的粒径与孔径分布直接影响其比表面积和活性位点可及性，是催化效率的关键控制因素。

电池材料：锂离子电池正负极材料的粒径分布影响电极的压实密度、锂离子迁移速率和电池的循环寿命与倍率性能。

复合材料填料：橡胶、塑料中添加的碳酸钙、二氧化硅等填料的粒径与表面特性影响复合材料的力学性能、加工流变性和最终制品外观。

检测标准

GB/T 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

ISO 13320:2020 粒度分析 - 激光衍射法

GB/T 15445.2-2022 粒度分析结果的表述 第2部分：由粒度分布计算平均粒径/直径及矩

ISO 22412:2017 粒度分析 - 动态光散射法

ASTM E2578-2007(2022) 使用动态光散射技术测量亚微米颗粒粒度的标准实践规程

GB/T 21649.1-2008 粒度分析 图像分析法

ISO 13322-1:2014 粒度分析 - 图像分析法 - 第1部分：静态图像分析法

GB/T 19587-2017 气体吸附BET法测定固态物质比表面积

ISO 9277:2010 气体吸附法测定固体的比表面积 BET法

ISO 13099-1:2012 胶体体系分散稳定性测定方法 第1部分：Zeta电位测定

检测仪器

激光粒度分析仪：基于激光衍射原理，通过测量颗粒群在不同角度上的散射光强分布来反演计算出样品的粒度分布。该仪器适用于从亚微米到毫米级的宽范围粒径测量。

动态光散射仪：通过检测纳米颗粒在溶剂中做布朗运动所引起的散射光强度随时间涨落的信号，分析其扩散系数并换算成粒径大小。主要用于纳米材料、蛋白质、胶体等样品的测量。

图像法颗粒分析系统：结合光学显微镜或电子显微镜与图像处理软件，直接对颗粒的显微图像进行采集和分析，可同时获得粒径分布和颗粒形貌信息。

沉降式粒度仪：依据斯托克斯定律，通过测量颗粒在重力场或离心力场中的沉降速度来计算其粒径大小。适用于密度已知的微米级粉末样品分析。

比表面积及孔隙度分析仪: 基于气体吸附原理，通常采用氮气吸附法，通过测量固体样品在不同压力下对气体的吸附量，依据BET方程计算比表面积，并利用BJH等方法分析孔径分布。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。