碲化锌单晶杂质含量测定

检测项目

铁含量测定：测定单晶中痕量铁元素，其对红外光学性能有显著淬灭效应。

铜含量测定：测定铜杂质浓度，铜是影响材料电学性能的关键受主杂质。

铝含量测定：测定铝元素含量，铝可能来源于原料或生长过程污染。

硅含量测定：测定硅杂质水平，硅是常见的施主杂质，影响载流子浓度。

镁含量测定：测定镁元素含量，评估其对晶体结构完整性的潜在影响。

钠与钾含量测定：测定碱金属杂质总量，碱金属易引起晶体缺陷。

铬含量测定：测定铬杂质浓度，铬是深能级杂质，影响中红外透过率。

镍含量测定：测定镍元素含量，评估其作为深能级中心的贡献。

氧含量测定：测定晶体中氧杂质的总量，氧通常以氧化物形式存在。

碳含量测定：测定碳杂质含量，碳可能来源于生长环境或有机污染。

检测范围

主量元素锌与碲：检测范围通常在99.99%至99.9999%（4N-6N）纯度级别。

过渡金属杂质：如Fe、Cu、Ni、Cr等，检测下限可达0.01 ppm至0.1 ppm量级。

碱金属及碱土金属：如Na、K、Mg等，检测范围通常在0.1 ppm至10 ppm之间。

ⅢA和ⅤA族元素：如Al、Ga、In、Sb等，检测下限一般在0.05 ppm左右。

间隙轻元素：如C、O，检测范围从几个ppm到数百ppm不等。

卤族元素：如Cl、Br，检测范围通常在0.1 ppm至5 ppm。

稀土元素杂质：如La、Ce等，检测下限约为0.01 ppm至0.1 ppm。

重金属元素：如Pb、Cd等，检测范围在0.05 ppm至1 ppm。

非故意掺杂的施主/受主总量：净载流子浓度对应的杂质总量范围。

表面吸附杂质：经清洗前后表面污染元素的对比检测范围。

检测方法

辉光放电质谱法：高灵敏度全元素分析方法，可直接对固体样品进行深度剖析。

二次离子质谱法：具有极高灵敏度与深度分辨率，用于表面及体内痕量杂质分布分析。

电感耦合等离子体质谱法：溶液进样，用于测定经酸溶解后样品中的超痕量杂质元素。

电感耦合等离子体发射光谱法：用于测定含量在ppm级别的多种杂质元素。

原子吸收光谱法：适用于特定单一元素如Fe、Cu、Na等的定量分析。

火花源质谱法：传统固体直接分析法，用于半定量筛查多种杂质。

傅里叶变换红外光谱法：通过杂质特征吸收峰定性并半定量分析某些轻元素及化合物。

低温光致发光谱法：通过杂质相关的发光峰来识别和评估特定光学活性杂质。

霍尔效应测试：间接评估净电离杂质浓度及类型（施主或受主）。

放射性活化分析：绝对分析方法，精度高，用于方法比对与标准物质定值。

检测仪器设备

辉光放电质谱仪：用于直接固体分析，具备ppt级检测限和深度剖析功能。

二次离子质谱仪：配备氧或铯离子源，用于表面及微区杂质成像与深度分析。

电感耦合等离子体质谱仪：高灵敏度质谱检测器，用于溶液样品的多元素痕量分析。

电感耦合等离子体发射光谱仪

原子吸收光谱仪：配备石墨炉或火焰原子化器，用于特定元素的精确测量。

火花源质谱仪：传统固体分析仪器，用于宽范围元素的快速筛查。

傅里叶变换红外光谱仪：配备低温及真空样品室，用于测量杂质引起的红外吸收。

低温光致发光光谱系统：包含低温恒温器、激光光源和单色仪/探测器，用于高分辨率PL测量。

霍尔效应测试系统

超净化学工作站：包含百级超净台、亚沸蒸馏器、特氟龙消解罐等，用于样品前处理。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。