相组成衍射检测

检测项目

物相定性分析：通过比对衍射图谱与标准数据库，确定样品中存在的结晶物质种类。

物相定量分析：测定混合物中各结晶相的质量分数或体积分数。

晶体结构解析：确定晶体的晶胞参数、原子坐标、空间群等微观结构信息。

结晶度测定：测量部分结晶材料（如聚合物）中结晶相与非晶相的相对含量。

晶粒尺寸与微观应变计算：通过衍射峰宽化效应，计算多晶材料的平均晶粒尺寸和微观应变。

残余应力分析：测量材料表面或内部因加工、热处理等过程产生的残余宏观应力。

织构（择优取向）分析：测定多晶材料中晶粒取向的分布情况。

薄膜厚度与密度测定：通过X射线反射率或掠入射衍射技术，测量薄膜的厚度、密度和界面粗糙度。

高温/低温相变研究：在变温条件下，原位监测材料的相变过程、相变温度及热膨胀系数。

层状化合物层间距测定：精确测量如粘土、石墨等层状材料的层间距离。

检测范围

金属与合金材料：包括钢铁、铝合金、钛合金等，分析其相组成、相变及残余应力。

无机非金属材料：涵盖陶瓷、玻璃、水泥、耐火材料等，鉴定其矿物组成与晶体结构。

高分子与聚合物材料：用于测定聚合物的结晶度、晶型及取向状态。

半导体材料：分析外延薄膜的晶体质量、厚度、应变及缺陷。

地质与矿物样品：鉴定岩石、矿石、土壤中的矿物种类与含量。

催化剂与多孔材料：表征其晶体结构、晶相纯度及在反应过程中的结构变化。

电池电极材料：研究充放电过程中正负极材料的相变机制与结构稳定性。

纳米材料：用于纳米颗粒、纳米线的物相鉴定、尺寸和应变分析。

药物与化学品：鉴定原料药及成品药的晶型，这对药效和专利至关重要。

考古与文化遗产：无损分析陶瓷、颜料、金属文物等的制作工艺与成分。

检测方法

X射线衍射：利用X射线与晶体相互作用产生衍射，是最核心、应用最广泛的物相分析技术。

同步辐射X射线衍射：利用同步辐射光源的高亮度、高准直性，进行超快、高分辨及微区分析。

中子衍射：利用中子束进行衍射，对轻元素（如氢、锂）敏感，并能穿透厚样品进行体相分析。

电子衍射：在透射电子显微镜中实现，可对纳米尺度的微区进行晶体结构分析。

选区电子衍射：在TEM中，对特定微区（如单个晶粒）进行衍射分析，确定其晶体结构。

会聚束电子衍射：用于精确测定晶体对称性、厚度及应变场。

低能电子衍射：主要用于单晶表面结构的二维分析。

粉末衍射法：针对多晶粉末样品，通过德拜-谢勒法或 Bragg-Brentano 几何进行测量。

单晶衍射法：使用单颗小晶体，可精确解出其完整的晶体结构。

掠入射X射线衍射：X射线以极小角度入射，主要用于表征薄膜、表面及界面的结构信息。

检测仪器设备

多晶X射线衍射仪：配备常规X射线管和测角仪，是进行粉末衍射分析的标准设备。

高分辨X射线衍射仪：采用多晶单色器和光学系统，用于半导体外延膜等的高精度分析。

微区X射线衍射仪：结合微聚焦X射线光源和光学系统，可进行数十微米尺度的微区分析。

同步辐射光束线：提供高强度、可调波长的X射线源，用于前沿的衍射与散射实验。

中子衍射谱仪：建于中子反应堆或散裂源上，用于需要中子特性的特殊衍射研究。

透射电子显微镜：集成选区电子衍射、高分辨成像等功能，实现纳米尺度的结构-成分关联分析。

扫描电子显微镜：可配备电子背散射衍射探头，用于大面积的晶体取向（织构）分析。

X射线应力分析仪：专为测量零部件表面的残余应力而设计，通常采用固定入射角或sin²ψ法。

高温/低温附件：为衍射仪配备的变温样品台，可在-190°C至1600°C甚至更高温度范围内进行原位实验。

二维面探探测器：可快速记录全二维衍射图谱，大幅提高数据采集效率，适用于动态过程研究。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。