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X射线衍射结构解析
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2026-03-31
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
晶体结构测定:确定晶体中所有原子的三维空间坐标、占位率及各向同性或各向异性热振动参数。
晶胞参数精修:精确计算晶体的晶胞常数(a, b, c, α, β, γ)及其不确定度。
空间群确定:根据系统消光规律,确定晶体所属的230种空间群之一,是结构解析的基础。
物相定性分析:将样品的衍射图谱与标准数据库(如PDF卡片)比对,确定样品中包含的结晶物相。
物相定量分析:依据衍射峰强度,测定多相混合物中各结晶相的质量或体积分数。
结晶度分析:测定部分结晶材料(如聚合物)中结晶相与非晶相的相对含量比例。
晶粒尺寸与微观应变计算:通过衍射峰的展宽效应,利用Scherrer公式或Williamson-Hall法计算平均晶粒尺寸和微观应变。
残余应力分析:测量材料内部由于加工或服役过程产生的宏观残余应力,通过晶面间距变化计算。
织构与择优取向分析:研究多晶材料中晶粒取向的分布情况,常用极图或反极图表示。
薄膜厚度与密度分析:通过X射线反射率(XRR)技术测量薄膜的厚度、密度和表面/界面粗糙度。
检测范围
无机材料:包括金属、合金、陶瓷、矿物、半导体材料、沸石分子筛等各类无机晶体化合物。
有机小分子晶体:涵盖药物分子、天然产物、有机合成中间体、配位化合物(金属有机框架MOFs)等。
生物大分子:主要用于蛋白质、核酸(DNA/RNA)、病毒、酶等生物大分子的单晶结构解析。
高分子与聚合物:分析聚合物的结晶形态、晶型、结晶度以及拉伸取向后的结构变化。
纳米材料:表征纳米颗粒、纳米线、纳米薄膜的晶体结构、尺寸、应变及表面效应。
地质与考古样品:鉴定岩石、矿物组成,分析考古文物(如陶瓷、颜料)的物相与制作工艺。
药物多晶型:鉴别药物活性成分的不同晶型,这对药物的溶解度、稳定性和生物利用度至关重要。
电池与能源材料:研究电极材料、固态电解质等在充放电循环过程中的晶体结构演变与相变。
催化剂材料:解析催化剂的活性中心结构,研究其在反应条件下的结构稳定性与变化。
工业产品与质量控制:应用于钢铁、水泥、电子元器件、涂层、镀层等工业产品的物相分析与质量监控。
检测方法
单晶X射线衍射:使用尺寸合适的单颗晶体,通过收集三维衍射数据,可解出最精确的原子级结构。
粉末X射线衍射:对多晶粉末样品进行测试,适用于无法获得单晶的样品,进行物相鉴定、结构精修等。
高分辨X射线衍射:主要用于外延薄膜、半导体异质结等材料的精密结构表征,如晶格失配、缺陷分析。
小角X射线散射:用于研究尺寸在1-100纳米范围内的结构,如胶体、高分子链、孔隙结构等。
掠入射X射线衍射:特别针对薄膜、表面和界面层的结构分析,能有效减少基底信号的干扰。
同步辐射X射线衍射:利用同步辐射光源的高亮度、高准直性等优势,进行超快、微区、原位或极端条件下的实验。
原位/工况X射线衍射:在加热、冷却、加压、通电、充放电等动态条件下实时监测材料的结构变化。
微区X射线衍射:利用聚焦的X射线束对样品微小区域(微米量级)进行结构分析,实现空间分辨。
结构精修(Rietveld法):一种全谱拟合技术,基于晶体结构模型对粉末衍射谱进行拟合精修,获得精确结构参数。
对分布函数分析:将衍射数据傅里叶变换到实空间,可用于研究非晶、液体、纳米晶等短程有序材料的结构。
检测仪器设备
实验室X射线衍射仪:最常见的设备,通常配备旋转靶或固定靶X射线管,用于常规粉末和单晶衍射分析。
X射线发生器(X射线管):产生X射线的核心部件,常用铜靶、钼靶等,提供特征X射线(如Cu Kα)。
测角仪:精密机械装置,用于精确控制样品和探测器在空间中的相对角度位置。
单色器:用于过滤掉X射线中的Kβ辐射和连续谱,获得单色的Kα辐射,提高衍射数据质量。
探测器:接收衍射X射线信号并将其转换为电信号,如点探测器、一维线阵探测器、二维面阵探测器等。
低温装置(冷氮气流或冷指):用于对生物大分子单晶或对空气/温度敏感的小分子单晶进行低温数据收集,减少辐射损伤和热振动。
高温/变温附件:提供可控的高温、低温或变温环境,用于研究材料的热膨胀、相变等温度依赖性行为。
样品制备设备:包括玛瑙研钵、样品架、毛细管、劳厄相机、晶体切割抛光设备等,用于制备符合测试要求的样品。
同步辐射光源:提供比实验室光源强多个数量级的X射线,支持时间分辨、微束、高分辨等尖端实验。
数据处理与结构解析软件:如Bruker的APEX3、Rigaku的CrysAlisPro用于单晶数据;JADE、HighScore用于粉末物相分析;SHELX、Olex2用于结构解析与精修。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。
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