有机电致发光器件效率测试

检测项目

电流效率：衡量器件将输入电流转换为光输出能力的核心参数，单位为坎德拉每安培（cd/A）。

功率效率：评估器件将输入电功率转换为光输出功率的效率，单位为流明每瓦（lm/W）。

外量子效率：指器件发射到外部的光子数与注入的电子-空穴对数之比，是评价光电转换物理极限的关键指标。

亮度：表征器件在给定方向上单位投影面积、单位立体角内的发光强度，单位为坎德拉每平方米（cd/m²）。

电致发光光谱：测量器件在电场激发下发射光的波长分布，用于分析色坐标、色纯度和发光材料特性。

色坐标：在CIE色度图上精确标定器件发光颜色的坐标值，通常为(x, y)或(u‘, v’)。

色温：对于白光OLED，描述其光色与黑体辐射光色接近程度的参数，单位为开尔文（K）。

显色指数：评价光源还原物体真实颜色能力的参数，对于照明用OLED至关重要。

启亮电压：器件开始产生可探测亮度（通常为1 cd/m²）时所需的最低驱动电压。

效率滚降：描述器件效率随亮度或电流密度增加而下降的特性曲线，反映器件在高亮度下的性能稳定性。

检测范围

小分子OLED：适用于真空蒸镀工艺制备的小分子型OLED器件，是当前主流显示技术的测试对象。

聚合物OLED：适用于溶液加工工艺（如旋涂、喷墨打印）制备的聚合物型OLED器件。

荧光OLED：针对基于荧光发光材料的器件，其内量子效率理论上限为25%。

磷光OLED：针对基于磷光材料的器件，可利用三重态激子，内量子效率理论可达100%。

热活化延迟荧光OLED：针对新兴的TADF材料器件，测试其通过反向系间窜越实现的高效率发光特性。

底发射器件：测试光从透明阳极（如ITO）一侧出射的器件结构。

顶发射器件：测试光从半透明阴极一侧出射的器件结构，常用于高开口率显示。

柔性OLED：针对以柔性基板（如聚酰亚胺）制备的器件，测试需考虑弯曲状态下的性能变化。

白光OLED：专用于照明或显示背光的白光器件，重点测试其光谱、色温、显色指数等。

微显示OLED：针对用于AR/VR等领域的微小型、高像素密度OLED器件，测试需高精度探针与光学系统。

检测方法

积分球法：将器件置于积分球内，收集其发出的全部光通量，是测量总光通量和外量子效率的标准方法。

变角光谱辐射计法：在不同角度测量器件的亮度和光谱，结合空间分布函数计算总光通量。

电流-电压-亮度特性测试：同步扫描并记录器件的电流、电压和亮度值，是获取效率曲线的基础。

光谱辐射度法：使用光谱辐射计直接测量器件在特定方向上的光谱辐射亮度，进而计算色度参数。

脉冲驱动测试：采用短脉冲电流驱动器件，减少自热效应，获取更接近稳态的准确效率数据。

寿命测试中的效率监测：在加速老化测试过程中，定期测量效率参数，以评估器件的性能衰减情况。

绝对法测量EQE：通过精确测量器件的所有输出光子数和注入电荷数，直接计算外量子效率，精度高但复杂。

相对法测量EQE：通过测量光谱辐射通量和驱动电流，结合人眼视见函数计算得到，是常用方法。

角度依赖特性测试：系统测量发光强度随视角的变化，评估器件的视角特性，对显示应用尤为重要。

低温效率测试：在低温（如液氮温度）环境下测试器件效率，用于研究激子动力学和效率滚降机理。

检测仪器设备

光谱辐射计：核心光学测量设备，用于精确测量光源的光谱功率分布、亮度及色度参数。

积分球系统：包含积分球、标准探测器、光谱仪等，用于测量器件的总光通量和空间均匀光。

精密源测量单元：提供高精度、可编程的电压/电流源，并同步测量器件的电压、电流响应。

OLED效率测试系统：集成SMU、光谱仪、积分球或变角测角仪的自动化测试平台，可一键完成IVL和效率测试。

高精度光度探头：直接测量亮度的传感器，通常用于快速筛查或产线监控。

低温恒温器：为器件提供可控的低温和真空/惰性气体环境，用于极端条件下的性能研究。

显微镜光学平台：用于微显示OLED或单个像素的测试，需搭配显微物镜和高精度位移台。

校准标准光源：包括标准卤钨灯、LED校准源等，用于定期对光谱辐射计进行光度与色度校准。

暗箱或屏蔽箱：提供黑暗的测试环境，完全隔绝外界杂散光，确保亮度测量准确性。

探针台：用于未封装或芯片级OLED器件的电学接触，尤其适用于阵列测试和科研样品。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。