项目数量-463
瓷土矿检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-04-21
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
瓷土矿基础检测体系包含三大类共12项核心指标:
化学成分分析:SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃、TiO₂、K₂O、Na₂O、CaO、MgO等主量元素定量分析
物理性能测试:粒度分布(-325目占比)、可塑性指数、干燥收缩率、烧成收缩率、白度值(L*值)、耐火度
矿物组成鉴定:高岭石含量测定、石英/云母等伴生矿物定量分析
特殊指标筛查:重金属迁移量(Pb、Cd、Hg)、放射性核素(Ra-226、Th-232、K-40)活度浓度
检测范围
适用于全产业链质量管控场景:
原矿评价:矿床勘探样、开采面分层样
加工产品:水洗精矿(325目/400目/1250目)、煅烧高岭土(600-1350℃)
应用验证:陶瓷坯体配方料、釉用原料、耐火材料基料
环境监测:尾矿库渗滤液、加工废水悬浮物
进出口检验:散装船运样、集装箱封装样
检测方法
项目类别 | 标准方法 | 技术特征 |
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化学分析 | GB/T 14506.28-2010 X射线荧光光谱法 ISO 21068-1:2008 灼烧减量测定法 | 多元素同步测定 1050℃恒重法 |
粒度测试 | ISO 13320:2020 激光衍射法 ASTM B822-20 筛分法 | 0.02-2000μm量程 干湿法双模式 |
矿物鉴定 | JY/T 009-1996 X射线衍射全谱拟合法 RIR值定量分析法 | 检出限0.5% R²≥0.99 |
白度测定 | GB/T 5950-2008 D65光源法 CIE L*a*b*色空间法 | 8°观测角 光谱反射率测量 |
放射性检测 | GB 6566-2010 γ能谱法 HPGe探测器本底扣除法 | 24小时连续测量 MDC≤10 Bq/kg |
检测仪器
X射线荧光光谱仪(XRF): 配备Rh靶X光管(4kW),实现B-U元素快速定量(±0.5%)
激光粒度分析系统: Mie散射理论模型,干湿法双进样模块(测量范围0.02-2000μm)
高温热膨胀仪: 室温至1600℃程序控温(±1℃),自动记录线性变化率(精度±0.1%)
全自动白度计: D65标准光源配置,8/d观测几何条件(重复性ΔE≤0.2)
X射线衍射仪(XRD): CuKα辐射源(45kV/40mA),步进扫描模式(0.02°/step)
高纯锗γ谱仪系统: 相对效率40% HPGe探测器(FWHM≤1.8keV@1332keV)
TGA-DSC同步热分析仪: 20-1500℃程序升温(升温速率0.1-50℃/min),μN级质量分辨率
电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS): DRC-e技术消除干扰(检出限ppt级)
CNS显微图像分析系统: 500万像素矿物解离度分析模块(识别精度1μm)
全自动比表面分析仪: BET多点法氮吸附技术(孔径范围0.35-500nm)
微波消解工作站: 40位高通量消解罐(最高温度300℃,压力80bar)
傅里叶红外光谱仪(FTIR): MCT低温探测器(波数范围7800-350cm⁻¹)
场发射扫描电镜(FE-SEM): In-lens探测器系统(分辨率1.0nm@15kV)
原子吸收分光光度计(AAS): D₂背景校正系统(特征浓度≤0.02μg/mL/1%)
CBRN防护型制样间: HEPA过滤系统维持ISO5级洁净度
LIMS实验室管理系统: EN ISO/IEC17025体系兼容的电子原始记录系统
典型设备技术参数对照表(示例) | ||
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S4 Pioneer XRF | Coulter LS13320 | |
元素范围 | Be(4)-U(92) / B(5)-U(92) | |
重复性 | <0.1% RSD | <1% CV |
通量 | 60样品/8小时 / 30样品/小时 | |
注:设备选型需根据样品基体特性匹配最佳配置方案 | ||