陶瓷电容测试

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-04-25  

陶瓷电容测试是评估其电气性能与可靠性的关键环节,主要涵盖电容量偏差、耐压强度、损耗角正切值及温度特性等核心指标。本文依据IEC60384-8/9、GB/T6346等标准规范,系统阐述检测项目分类、适用产品范围、标准化方法流程及精密仪器选型要求,为行业提供技术参考。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

陶瓷电容核心检测项目包含六大类:

电容量测试:测量标称值与实际值的偏差率(±5%~±20%)

耐压测试:验证额定电压下的绝缘强度及击穿电压阈值

损耗角正切值(tanδ):评估介质材料能量损耗特性

绝缘电阻测试:测定直流偏压下漏电流参数

温度特性测试:分析-55℃~+125℃温域内容量变化率

机械强度测试:包含端子附着力、弯曲应力等物理性能验证

检测范围

本检测体系适用于以下产品类型:

分类维度具体类型
结构形式多层陶瓷电容器(MLCC)、单层陶瓷电容器、高压陶瓷电容器
介质材料Ⅰ类(NP0/C0G)、Ⅱ类(X7R/X5R)、Ⅲ类(Y5V/Z5U)
应用领域消费电子(0402~1210封装)、汽车电子(AEC-Q200认证)、工业设备(高可靠性要求)
特殊功能高频低ESL型、抗振型、三端子滤波型

检测方法

标准化检测流程包含以下方法体系:

电桥法测量电容量

采用四端对连接方式消除引线误差,在1kHz/1Vrms标准条件下读取数据。高频型号需扩展至1MHz测量频段。

直流耐压试验法

以1.5~3倍额定电压施加60秒,漏电流阈值设定为0.5~5μA(视容量等级调整)。

自动平衡式相位分析

通过矢量电压-电流比计算tanδ值,控制环境湿度≤40%RH以避免表面漏导影响。

阶梯温变试验法

-55℃→+25℃→+125℃三阶段恒温箱控制,每阶段稳定30分钟后进行参数测量。

机械振动试验

依据MIL-STD-202G Method 204实施10~2000Hz扫频振动测试。

检测仪器

关键检测设备技术参数如下:

精密LCR测试仪

Keysight E4980AL(频率范围20Hz-2MHz),支持四端对测量夹具及恒温控制选件。

高压绝缘测试系统

Trek Model 30/20A(输出电压0-5kV),集成pA级漏电流检测模块。

阻抗分析仪

Agilent 4294A(40Hz-110MHz),配备三同轴探头消除杂散电容干扰。

环境试验箱

TABAI ESPEC PN-120C(温控范围-70℃~+180℃),带RS485通讯接口。

X射线镀层测厚仪

自动探针台系统

Cascade Summit12000B-MEMS,支持0201封装器件的精准定位测量。

扫描电子显微镜(SEM)

Hitachi SU8000系列(分辨率1nm),用于介质层微观结构分析。

热冲击试验机

TSE-11-AIR(转换时间<10秒),满足JEDEC JESD22-A104F标准。

仪器功能对照表(示例)

设备类型核心功能模块符合标准项
LCR测试仪

(Agilent E4980A)

- 四端对精密测量

- Auto-balancing电路

- DC bias叠加功能

- Temperature chamber接口

- GPIB通信协议

- ±0.05%基本精度

- DC偏置电压±40V

- CV/CP复合测量模式

- Guard端子设计

- DCR同步测量功能

- List扫描模式

- Comparator分选功能

- Self-calibration程序

- Guarded triaxial连接器

- Guard switching电路

- Offset compensation算法

- Harmonic analysis模块

- DC resistance测量模式

- Impedance magnitude-phase显示

- Equivalent circuit analysis工具包

- Data logging软件接口

- External trigger输入端口

- Auto-ranging功能

- Multi-frequency同时测量技术

- Guard terminal浮地设计

- Open/short/load补偿功能

- DC bias叠加精度±1%+50mV

- Temperature coefficient补偿算法

- Guard shield驱动电路

- High-Z输入保护电路

- Low noise preamplifier模块

- Digital signal processing单元

- Multi-point calibration程序库

- User-defined test sequence编程接口

IEC 60384-8/9 Clause4.3.1

AEC-Q200 Rev-D Section4.4.3

MIL-PRF-55681 Method3011.3

JIS C5101-1:2016 AnnexB.2.4.1

设备类型核心功能模块符合标准项
耐压测试系统

(Trek Model30/20A)

*注:本表格仅展示部分典型设备参数及对应标准条款号示例

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检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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