晶振频率检测

检测项目

晶振频率检测涵盖以下核心指标： 1. 标称频率偏差：实测频率与标称值的绝对误差 2. 频率温度特性：-40℃至+85℃温域内的频偏变化 3. 频率老化率：连续工作1000小时后的长期稳定性 4. 负载电容匹配性：外接电容变化±10%时的频率响应 5. 输出波形质量：包括上升/下降时间、占空比及谐波失真度 6. 短期稳定度：1秒内相位噪声与艾伦方差表征 7. 抗冲击振动性能：机械应力下的频率偏移量

检测范围

本检测体系适用于： 1. 普通晶体振荡器（SPXO）：基础时钟源器件 2. 温度补偿晶振（TCXO）：内置温度补偿电路型号 3. 恒温晶振（OCXO）：带恒温槽的高稳产品 4. 压控晶振（VCXO）：电压调频型特殊器件 5. 表面贴装型（SMD）与直插式（DIP）封装器件 6. 工作频率覆盖1MHz至200MHz标准品及定制品 7. 消费级（±50ppm）至军工级（±0.1ppm）精度等级

检测方法

标准测试流程包含： 1. 直接频率测量法：采用铷钟基准源对比被测件输出信号 2. 温度循环测试法：在可编程温箱中执行-55℃→+125℃步进扫描 3. 长期稳定性测试法：持续供电并记录72小时以上频率漂移数据 4. 负载电容调整法：通过可调电容箱模拟实际电路匹配状态 5. 波形分析法：利用高速采样示波器捕获上升沿/下降沿特性 6. 相位噪声测量法：通过频谱分析仪获取10Hz至1MHz偏移量数据 7. 机械应力测试法：施加5G振动加速度验证结构可靠性

检测仪器

标准实验室配置包括： 1. 高精度频率计：分辨率达0.001Hz，时基稳定度≤1E-11/天 2. 多通道频谱分析仪：支持相位噪声测量功能（底噪≤-170dBc/Hz） 3. 程控恒温箱：控温精度±0.1℃，变温速率≥5℃/分钟 4. 老化测试系统：具备多路并行监测与数据自动记录功能 5. 可调电容箱：调节范围0-50pF，步进精度±0.05pF 6. 数字存储示波器：带宽≥1GHz，采样率≥10GSa/s 7. 振动试验台：符合MIL-STD-883H Method2007标准要求

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。