玻璃杂质高效检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-05-12  

本文系统阐述玻璃制品中杂质成分的高效检测体系,重点解析工业玻璃与光学玻璃的杂质类型、检测参数及技术规范。基于现行ASTMC169标准框架,详细说明物理观测与化学分析相结合的检测路径,涵盖气泡、结石、条纹等缺陷的定量分析方法及仪器选型标准。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

玻璃杂质检测体系包含三大核心指标:固态夹杂物粒径分布、气态缺陷体积占比及化学组分异常值。固态夹杂物重点监测硅酸盐结石(SiO₂结晶相)、氧化铝聚集体(Al₂O₃≥5μm)及金属硫化物(FeS/NiS)的分布密度;气态缺陷主要量化气泡直径(Φ50-500μm)、单位体积气泡数(≤3个/cm³)及气泡壁厚均匀度;化学组分异常着重分析碱金属氧化物(Na₂O/K₂O)浓度梯度、过渡金属离子(Fe³+/Cr³+)迁移率及卤素元素(Cl/F)残留量。

检测范围

本检测方案适用于平板玻璃、中空玻璃、钢化玻璃等建筑玻璃制品;光学玻璃涵盖冕牌玻璃(K9)、火石玻璃(ZF6)等折射率1.45-1.85材料;特种玻璃包括高硼硅玻璃(SiO₂≥80%)、微晶玻璃(Li₂O-Al₂O₃-SiO₂系)等工业材料。针对不同应用场景设定差异化标准:建筑玻璃执行GB 11614-2022气泡缺陷B类容许限值;光学玻璃参照ISO 10110-3:2016条纹等级划分;药用玻璃符合USP<660>表面颗粒物控制标准。

检测方法

物理观测采用三轴联动显微系统实现三维缺陷定位:使用2000万像素CMOS传感器配合10-100倍电动变焦镜头进行表面扫描(精度±2μm),结合激光共聚焦模块测量缺陷深度(分辨率0.1μm)。化学分析建立X射线荧光光谱(XRF)与电感耦合等离子体(ICP-OES)联用方案:XRF测定Na/Mg/Al/Si/K/Ca等常量元素(检出限0.01wt%),ICP-OES分析Fe/Cr/Ni等痕量金属(检出限0.1ppm)。特殊缺陷鉴别采用显微红外光谱(μ-FTIR)进行分子结构表征:4cm⁻¹分辨率下获取结石夹杂物的特征吸收峰(400-4000cm⁻¹),通过谱库比对确定Al₂O₃·2SiO₂或2MgO·2Al₂O₃·5SiO₂等化合物类型。

检测仪器

缺陷观测系统配置OLYMPUS DSX1000数字显微镜(配DFPLAPO 20×-100×物镜)与Keyence VHX-7000三维测量模块;元素分析采用Thermo Scientific ARL QUANT'X EDXRF光谱仪(Rh靶50W X光管)和PerkinElmer Avio 550 Max ICP-OES(双观测模式);结构表征使用Nicolette iN10 MX显微红外光谱仪(MCT/A探测器);辅助设备包含Buehler IsoMet 5000精密切割机(切割速度0.1-300mm/min)和Struers LaboPol-25抛光机(粒度0.05μm金刚石悬浮液)。所有设备均通过NIST可溯源标准物质进行季度校准,确保测量不确定度≤5%(k=2)。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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