人造石英晶体杂质检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-07-21  

人工石英晶体杂质检测关注晶体材料中的化学杂质、物理缺陷和性能影响。关键检测点包括元素分析、结构完整性评估及电气特性测量。专业检测确保材料在高精度电子和光学应用中的可靠性与安全性。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

元素杂质分析:测定晶体中金属和非金属杂质含量。具体检测参数:铁、铝、钙等元素浓度(单位ppm),检测精度±0.1ppm。

气泡和夹杂物检测:识别内部缺陷对光学性能的影响。具体检测参数:缺陷尺寸范围(0.1-100μm),密度(单位个/cm³)。

晶体结构完整性评估:分析晶格排列缺陷。具体检测参数:晶格畸变率(%),位错密度(单位线/cm²)。

表面污染检测:评估污染物对表面性能的影响。具体检测参数:污染物覆盖率(%),污染物类型(如油渍、粉尘)。

光学均匀性测试:测量晶体折射率变化。具体检测参数:折射率偏差(Δn),均匀性误差(单位μm/cm)。

电气特性测量:检验压电或介电性能干扰。具体检测参数:电阻率(单位Ω·cm),损耗因子(tanδ)。

热稳定性评估:分析高温下杂质扩散行为。具体检测参数:热膨胀系数(单位10⁻⁶/K),热导率变化(单位W/m·K)。

机械强度测试:评估杂质导致的脆性增加。具体检测参数:抗弯强度(单位MPa),硬度(单位HV)。

水分含量测定:检测晶体内部吸附水分子。具体检测参数:水分浓度(单位ppm),干燥失重率(%)。

放射性杂质检测:识别放射性元素残留危害。具体检测参数:放射性活度(单位Bq/kg),铀、钍元素含量(单位ppm)。

检测范围

石英晶体振荡器元件:用于频率控制电路的核心组件。

光学透镜材料:高纯度晶体在激光和成像系统中的应用。

半导体基板组件:集成电路制造中的支撑材料。

压电传感器材料:转换机械能到电信号的传感器部件。

通信设备滤波器:微波和射频设备的频率筛选器件。

激光晶体基质:固态激光增益介质的基础材料。

精密仪器窗口:真空或高压环境的光学透射组件。

高温炉具炉膛:耐热环境的结构绝缘材料。

医疗成像设备组件:X射线或超声诊断仪器部件。

航空航天导航系统:惯性导航和卫星通信组件。

检测标准

ASTMC117:粒状矿物杂质的标准测试方法。

ISO10081:陶瓷材料化学分析通用要求。

GB/T14840:高纯石英砂化学分析方法。

ASTME112:粒度和夹杂物评价标准。

ISO14720:氧化硅粉末杂质测试规范。

GB/T16559:晶体材料电气特性测量方法。

ASTMF1249:表面污染检测规程。

ISO185:铸造材料缺陷评估指南。

GB/T25915:放射性杂质检测标准程序。

ISO13320:颗粒大小分布测量规范。

检测仪器

X射线荧光光谱仪:分析元素组成的仪器。在本检测中检测杂质元素浓度和类型。

红外光谱仪:测量分子吸收特性的仪器。在本检测中识别水分和有机杂质。

扫描电子显微镜:观察微观结构的仪器。在本检测中评估表面和内部缺陷。

原子吸收光谱仪:测定金属含量的仪器。在本检测中量化金属杂质ppm值。

激光散射仪:测量颗粒分布的仪器。在本检测中分析气泡尺寸和密度。

热分析仪:评估热性能的仪器。在本检测中测试热稳定性和膨胀系数。

电阻率测试仪:测量电气参数的仪器。在本检测中监控电阻率和损耗因子。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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