项目数量-3473
化学机械抛光划伤分析检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-08-15
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
划伤密度分析:测量单位面积内的划伤数量。具体检测参数:密度范围0.1-100条/mm²。
划伤深度测量:量化划伤在垂直方向上的最大深度。具体检测参数:深度范围0.1-10μm。
划伤宽度分析:评估划伤在水平方向上的宽度分布。具体检测参数:宽度范围0.5-50μm。
划伤长度分布:统计划伤的长度特征和频率。具体检测参数:长度范围10-1000μm。
表面粗糙度变化:检测划伤引起的局部表面纹理变化。具体检测参数:Ra值变化0.01-1μm。
划伤类型分类:识别划伤形态如直线或曲线。具体检测参数:分类准确度95%以上。
材料移除率影响:分析抛光参数对划伤形成的影响程度。具体检测参数:移除率范围0.1-10μm/min。
颗粒残留检测:评估抛光液中颗粒导致的划伤来源。具体检测参数:颗粒大小0.1-10μm。
表面形貌三维重建:生成划伤区域的三维模型。具体检测参数:空间分辨率0.1μm。
划伤成因推断:识别划伤来源如工具磨损或污染。具体检测参数:成因识别率90%。
检测范围
半导体晶圆:集成电路制造中的抛光硅表面。
蓝宝石衬底:光电器件如LED的基材抛光。
光学玻璃镜片:精密光学系统的抛光元件。
金属涂层表面:硬盘驱动器磁头等涂层抛光。
陶瓷基板:电子封装用陶瓷材料抛光。
聚合物薄膜:显示技术中的柔性材料抛光。
医疗器械组件:植入物或手术器械表面抛光。
航空航天材料:涡轮叶片涂层抛光。
太阳能电池板:硅片基材抛光表面。
微电子机械系统:微型传感器或执行器抛光。
检测标准
依据ASTM E112标准测定平均晶粒度。
ISO 25178规范表面纹理面积法分析。
GB/T 6060.2规定表面粗糙度比较样块。
ISO 4287定义表面纹理轮廓参数。
ASTM E766实践表面粗糙度测量方法。
GB/T 1031规定表面粗糙度参数数值。
ISO 16610规范表面纹理滤波分析。
ASTM D7127测试表面划伤测量方法。
ISO 8503规定表面粗糙度比较样块。
GB/T 33523规范表面纹理分析技术。
检测仪器
扫描电子显微镜:用于高分辨率表面成像。功能:在本检测中观察划伤微观形态和尺寸。
原子力显微镜:测量纳米尺度表面形貌。功能:量化划伤的深度和宽度参数。
白光干涉仪:非接触式表面轮廓测量设备。功能:重建划伤区域的三维形貌模型。
光学显微镜:进行表面初步观察和成像。功能:快速识别划伤分布和密度特征。
表面粗糙度测试仪:测量表面纹理参数变化。功能:评估划伤引起的粗糙度增加程度。
激光扫描共聚焦显微镜:高精度三维表面成像设备。功能:分析划伤深度分布和轮廓特征。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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