反向偏压安全裕度测试检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-16  

反向偏压安全裕度测试是评估半导体器件在反常电压应力下可靠性的关键方法,重点检测反向击穿电压阈值、漏电流特性及热稳定性参数。该测试通过施加可控反向电压,精确测定器件的失效临界点,量化安全操作边界。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

反向击穿电压测试:确定PN结介质击穿临界值参数;施加0-3000V阶梯电压,步进精度0.1%

反向漏电流特性分析:检测反向偏置状态载流子泄漏参数;测量范围1pA-10mA,分辨率0.1pA

热击穿点定位:识别温度诱发的击穿现象参数;温度控制范围-65℃~+300℃,精度0.5℃

安全工作区测绘:建立电压-电流-温度三维安全边界参数;采集1000点/秒动态数据

雪崩能量耐受度:量化载流子倍增效应极限参数;脉冲宽度10ns-100ms可调

瞬态反向恢复特性:捕捉关断过程电压过冲参数;时间分辨率1ns,带宽500MHz

偏压温度不稳定性:评估高温偏压应力退化效应参数;持续加压1000小时,温度175℃

介质层完整性验证:检测钝化层与界面失效参数;施加AC1kHz-1MHz扫描电压

热阻系数测定:计算结温与热耗散关系参数;热电偶精度0.1K

失效模式分析:识别烧毁/短路/参数漂移类型参数;结合显微成像与电参数关联分析

长期偏压老化:模拟持续反向应力寿命参数;加速因子计算依据Arrhenius模型

静电放电敏感度:验证ESD防护结构鲁棒性参数;接触放电8kV,空气放电15kV

检测范围

功率二极管:整流器与快速恢复二极管器件

硅基MOSFET:平面栅与沟槽栅功率场效应管

IGBT模块:绝缘栅双极型晶体管组合器件

碳化硅肖特基二极管:宽禁带半导体功率器件

氮化镓HEMT:高电子迁移率晶体管器件

晶闸管类器件:可控硅整流器与双向触发二极管

电源管理IC:AC-DC转换器与稳压器芯片

光伏逆变模块:太阳能发电系统功率单元

车规级功率器件:新能源汽车电控系统组件

射频功率器件:基站用LDMOS与GaAs器件

高压集成电路:≥600V工作电压芯片

光电器件:APD雪崩光电二极管接收单元

检测标准

JESD22-A108F温度偏压寿命试验规范

IEC60749-25半导体器件机械与气候试验方法

GB/T17574-2021半导体器件分立器件通用规范

AEC-Q101车用分立器件应力测试认证

MIL-STD-750-1半导体分立器件测试方法

JEDECJEP184功率器件安全工作区指南

IEC60747-9分立器件绝缘栅晶体管测试

GB/T4587-94双极型晶体管测试方法

ASTMF1241功率晶体管热特性标准

IEC62047-11半导体器件可靠性试验规程

检测仪器

高精度源表模块:提供0-3000V可编程偏压源,电流测量精度0.02%

热阻测试系统:集成T3ster瞬态测温技术,结温分辨率0.01℃

动态参数分析仪:捕获纳秒级电压/电流瞬态波形,采样率10GS/s

高温反偏试验箱:温控范围-70℃~+300℃,支持多工位并行测试

雪崩能量测试平台:产生100A/100ns短脉冲,能量测量误差3%

介质耐压分析仪:执行AC/DC击穿测试,电压爬升速率0.1V/s-500V/s可调

半导体特性分析系统:支持CV/IV多参数扫描,最小电流量程1fA

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院