薄膜组分质谱检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-08-22  

薄膜组分质谱检测涉及利用质谱技术分析薄膜材料的化学组分。检测要点包括元素定量分析、分子结构鉴定、杂质含量测定、表面组分分布评估及同位素比例分析,确保材料性能符合应用要求。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

元素组成分析:测定薄膜中元素的种类和浓度。具体检测参数包括检测范围从氢元素到铀元素,精度达ppb级别,误差小于5%(相对标准偏差)。

分子结构鉴定:识别薄膜中有机或无机分子的化学键合方式。具体检测参数包括分子质量范围50-100000 Da,分辨率优于0.01 Da。

杂质含量测定:定量薄膜中外来污染物浓度。具体检测参数包括检出限低至0.1 ng/cm²,覆盖重金属、有机残留及微粒杂质。

同位素比例分析:评估薄膜中特定元素的同位素丰度。具体检测参数包括测量精度±0.1%原子比,适用于碳、氧、氮等元素。

表面组分分布:分析薄膜表层化学组成变化。具体检测参数包括深度分辨率0.1 nm,空间分辨率1 μm。

深度剖面分析:测定薄膜从表面到基底的组分梯度。具体检测参数包括扫描深度范围0-10 μm,步进精度0.5 nm。

有机污染物定量:检测薄膜中残留有机溶剂或添加剂。具体检测参数包括浓度范围0.1-1000 ppm,选择性针对挥发性有机物

无机添加剂分析:评估薄膜中掺杂元素或化合物的含量。具体检测参数包括检测限0.05 μg/g,应用于硅、铝等添加剂。

涂层厚度相关组分:关联涂层厚度与组分变化。具体检测参数包括厚度测量范围10 nm-100 μm,组分同步误差小于2%。

残留溶剂检测:测定薄膜制备过程中的溶剂残留量。具体检测参数包括检出限0.01 μg/cm²,适用于乙醇、丙酮等溶剂。

检测范围

半导体薄膜:应用于集成电路中的绝缘或导电层,如硅基薄膜或氮化硅涂层。

光学涂层:用于镜头或显示器的抗反射或增透薄膜,如氧化铟锡涂层。

包装材料:食品或医药包装中的阻隔层,如聚乙烯复合薄膜。

太阳能电池薄膜:光伏组件中的光吸收层,如碲化镉或铜铟镓硒薄膜。

生物医学涂层:医疗器械表面的抗菌或药物缓释薄膜,如聚乳酸涂层。

电子器件封装:微电子封装中的保护薄膜,如环氧树脂涂层。

汽车工业涂层:车身或部件表面的耐磨薄膜,如聚氨酯保护层。

航空航天材料:飞行器表面的热障或防腐蚀薄膜,如氧化钇涂层。

建筑玻璃薄膜:节能建筑中的隔热或低辐射涂层,如银基多层薄膜。

柔性显示材料:可弯曲屏幕中的导电或绝缘薄膜,如聚酰亚胺基材。

检测标准

依据ASTM E1252进行表面元素分析

参照ISO 20903规范薄膜深度组分测试。

应用GB/T 17359用于电子薄膜元素定量。

采纳ASTM D6354测定有机污染物含量。

遵循ISO 18118进行薄膜表面成分分析。

依据GB/T 18824规范同位素比例检测。

参照ASTM E1504用于杂质测定。

应用GB/T 19443进行涂层厚度组分关联测试。

采纳ISO 17560规范深度剖面分析。

遵循ASTM F1375测定添加剂含量。

检测仪器

飞行时间质谱仪:基于离子飞行时间分离质量,功能包括快速扫描分子结构和元素组成,质量范围覆盖1-100000 Da。

四极杆质谱仪:利用电场过滤离子,功能包括高精度定量元素和杂质,检测限低至0.1 ppb。

电感耦合等离子体质谱仪:通过等离子体离子化样品,功能包括多元素同时分析,分辨率优于0.05 Da。

二次离子质谱仪:利用离子束轰击表面,功能包括表面组分分布和深度剖面分析,空间分辨率1 μm。

傅里叶变换质谱仪:采用磁场稳定离子轨迹,功能包括高分辨率分子结构鉴定,精度±0.001 Da。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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