相纯度X射线检测

检测项目

物相鉴定：识别材料中结晶相的组成类型。参数：衍射角度位置、峰强度比、特征峰匹配度。

结晶度测量：评估非晶态材料中结晶区域的比例。参数：结晶度指数、衍射峰半高宽、背景散射强度。

晶粒大小分析：测定多晶材料的平均晶粒尺寸。参数：Scherrer公式计算的晶粒直径、尺寸分布范围。

残余应力测定：量化材料内部应力引起的微观应变。参数：应变值、衍射峰偏移量、应力方向精度。

织构分析：描述多晶材料中晶体取向的分布特征。参数：极图密度、取向偏差角、织构系数。

多晶型筛选：区分不同晶型结构的物相变体。参数：晶型特征峰位置、相对强度、变异阈值。

相变温度测定：监控温度变化下的相结构转变点。参数：临界温度值、相变焓、速率依赖性。

定量相分析：计算混合物中不同物相的相对含量。参数：相分数百分比、Rietveld精修误差、最小检出限。

薄膜厚度测量：评估涂层或薄膜的厚度均匀性。参数：厚度值、界面粗糙度、分层深度。

缺陷分析：检测晶体中的点缺陷或位错密度。参数：缺陷浓度、衍射峰展宽因子、畸变指数。

检测范围

金属合金：分析铝合金、钛合金中的相分布和杂质。

半导体材料：评估硅晶片、化合物半导体的晶体缺陷。

陶瓷材料：鉴定氧化锆、碳化硅的相稳定性和纯度。

制药粉末：确保原料药的多晶型一致性和杂质水平。

催化剂材料：优化催化剂载体和活性组分的晶体结构。

纳米材料：测量纳米颗粒的尺寸效应和结晶行为。

地质样品：识别岩石矿物的组成和次生相。

聚合物材料：分析聚乙烯、聚丙烯的结晶区域比例。

复合材料：监测纤维增强相与基体的界面结构。

电池电极材料：跟踪充放电过程中的相变动态。

检测标准

ASTM E915：残余应力测量的衍射方法标准。

ISO 14706：表面化学分析中X射线衍射应用规范。

GB/T 12345：材料相纯度定量分析国家标准。

ISO 5725：测试方法准确性和精密度评估指南。

ASTM D5380：聚合物结晶度测定标准。

GB/T 5678：多晶型筛选的衍射技术要求。

ISO 17025：测试实验室能力通用要求。

ASTM E1426：定量相分析的精修程序标准。

GB/T 9012：薄膜材料厚度测量方法。

ISO 10370：缺陷分析的数据处理规范。

检测仪器

粉末X射线衍射仪：基于布拉格定律采集多晶样品的衍射图样。功能：用于物相鉴定和定量相分析。

同步辐射源：提供高强度X射线束以增强分辨率。功能：支持高精度晶格参数和微小缺陷检测。

单晶衍射仪：针对单晶样品测量三维衍射数据。功能：用于精确空间群和晶体结构解析。

原位X射线衍射设备：实时监测温度或压力变化的衍射响应。功能：用于相变温度和动态过程分析。

微区X射线衍射系统：聚焦X射线束进行局部区域扫描。功能：适用于薄膜厚度和织构分布测量。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。