X射线荧光镀层测厚法检测

检测项目

镀层厚度测量：测量金属镀层的厚度，参数包括测量范围0.01-50μm，精度±0.1μm。

元素成分分析：分析镀层中的元素组成，参数包括可检测元素从钠到铀，检测限0.1%。

多层镀层测量：测量多层镀层结构的各层厚度，参数支持最多5层，各层独立测量。

镀层均匀性评估：评估镀层在表面的分布均匀性，参数扫描面积100mm²，分辨率0.1mm。

基材识别：识别 underlying substrate material，参数可识别常见金属如铜、铁、铝。

污染检测：检测表面污染物如氧化物，参数灵敏度0.01mg/cm²。

镀层附着力间接评估：通过厚度一致性推断附着力，参数基于厚度变化率。

腐蚀产物分析：分析腐蚀后的镀层变化，参数元素 mapping 能力。

镀层密度计算：基于厚度和重量计算密度，参数需要辅助重量测量。

镀层老化评估：评估长期使用后的厚度变化，参数比较初始和当前厚度。

检测范围

电子元器件：印刷电路板上的镀层触点。

汽车零件：镀锌钢板和装饰件。

珠宝首饰：镀金或镀银饰品。

航空航天组件：镀铬或镀镍零件。

医疗器械：不锈钢镀层设备。

家用电器：镀镍五金部件。

工业设备：镀硬铬机械零件。

建筑材料：镀锌钢梁和结构件。

光学器件：镀膜镜头和反射镜。

包装材料：镀铝薄膜和容器。

检测标准

ASTM B568: JianCe Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry

ISO 3497: Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods

GB/T 16921: 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法

ASTM E572: JianCe Test Method for Analysis of Stainless and Alloy Steels by X-Ray Fluorescence Spectrometry

ISO 14594: Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the specification of certified reference materials

GB/T 17359: 微束分析 电子探针显微分析 通用技术条件

检测仪器

X射线荧光光谱仪：激发样品产生X射线荧光，用于厚度和成分分析。

样品定位台：承载和精确移动样品，确保测量位置准确。

X射线探测器：检测荧光X射线信号，转换为电信号。

数据处理单元：分析光谱数据，计算镀层厚度和元素浓度。

校准标准片：用于仪器校准，提供已知厚度的参考。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。