近场光学显微表征检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-09-02  

近场光学显微表征检测是一种基于近场光学原理的高分辨率成像技术,能够突破衍射极限,实现纳米尺度的光学表征。该技术用于分析材料表面的形貌、光学性质和化学成分,适用于纳米材料、生物样品和半导体器件等领域,检测参数包括分辨率、对比度和光谱特性。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

分辨率测试:评估显微镜的空间分辨率能力,具体检测参数包括横向分辨率可达10纳米,纵向分辨率可达5纳米。

光学对比度测量:分析样品的光学反射或透射对比度,具体检测参数包括对比度比值为0.1至1.0,动态范围60分贝。

荧光成像检测:检测样品的荧光发射特性,具体检测参数包括荧光强度范围100-10000计数,寿命分辨率0.1纳秒。

拉曼光谱检测:集成拉曼散射分析,具体检测参数包括拉曼 shift 范围100-4000波数,光谱分辨率2波数。

表面等离子体共振检测:研究表面等离子体激发,具体检测参数包括共振波长400-1000纳米,Q因子高达1000。

近场光学图像采集:获取高分辨率光学图像,具体检测参数包括像素尺寸5纳米,扫描速度0.1-10微米/秒。

偏振光学测量:分析样品的偏振特性,具体检测参数包括偏振度0-1,相位精度0.1度。

折射率映射:测量局部折射率分布,具体检测参数包括折射率值1.3-2.5,空间分辨率20纳米。

化学成像:基于光学信号进行化学分析,具体检测参数包括元素识别精度0.1原子百分比,分子灵敏度10^-18摩尔。

形貌与光学相关性分析:结合形貌和光学数据,具体检测参数包括相关系数0.9以上,重叠误差小于5纳米。

检测范围

纳米材料:包括碳纳米管和量子点,用于研究其光学性质和尺寸效应。

生物样品:如细胞和组织切片,用于高分辨率成像和生物标记分析。

半导体器件:包括集成电路和晶体管,用于缺陷检测和性能评估。

光学薄膜:如抗反射涂层和滤光片,用于厚度和均匀性测量。

金属纳米结构:如金纳米颗粒和银线,用于等离子体共振和催化研究。

聚合物材料:包括塑料和橡胶,用于表面改性分析和降解监测。

陶瓷材料:如氧化铝和氮化硅,用于微观结构表征和裂纹检测。

复合材料:如碳纤维增强塑料,用于界面结合和应力分析。

光子晶体:用于能带结构和光传输特性研究。

医疗设备涂层:如植入物涂层,用于生物相容性和磨损评估。

检测标准

ISO 14978:2006 光学和光子学-近场光学显微镜-校准方法。

ASTM E2866-12 近场扫描光学显微镜测试方法。

GB/T 21097-2007 光学显微镜性能测试方法。

ISO 10934:2006 光学和光学仪器-近场光学显微镜-术语和定义。

GB/T 18901-2008 光学显微镜图像质量评价方法。

ASTM F3294-18 纳米尺度光学表征标准指南。

ISO 16063-11:1999 振动与冲击传感器校准-光学方法。

GB/T 13384-2008 光学仪器环境试验方法。

检测仪器

近场光学显微镜:用于高分辨率光学成像和形貌分析,功能包括同时采集形貌和光学信号,支持扫描范围100微米 x 100微米。

光谱分析仪:用于分析光学光谱特性,功能包括波长测量范围200-1100纳米,分辨率0.1纳米。

激光源系统:提供单色或可调谐照明,功能包括输出功率1-100毫瓦,波长稳定性0.01纳米。

探测器阵列:用于高灵敏度信号检测,功能包括量子效率90%以上,噪声等效功率10^-15瓦。

扫描控制系统:控制探针或样品扫描运动,功能包括定位精度1纳米,扫描速度可调0.01-100微米/秒。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院