晶体结构衍射鉴定检测

检测项目

晶格常数测定：通过衍射角计算晶面间距，参数包括角度精度0.01度和晶格参数误差±0.001Å。

相组成分析：识别材料中的晶体相，参数涵盖相识别精度99%和最小检测限1wt%。

晶体取向测定：确定晶粒的取向分布，参数包括取向角分辨率0.1度和扫描范围0-180度。

晶体缺陷检测：分析位错和空位等缺陷，参数涉及缺陷密度测量范围10^3-10^8 cm^{-2}和分辨率1nm。

晶体尺寸计算：基于衍射峰宽计算晶粒大小，参数包括尺寸范围1nm-100μm和误差±5%。

应力应变分析：测量晶格畸变引起的应力，参数涵盖应力精度±10MPa和应变范围0.001-0.1。

晶体结构 refinement：通过Rietveld方法精修结构模型，参数包括R因子<5%和原子位置精度±0.01Å。

多晶衍射图谱采集：记录多晶样品的衍射 pattern，参数涉及角度范围5-90度和步长0.02度。

单晶衍射数据收集：获取单晶的衍射点阵，参数包括分辨率0.8Å和收集时间1-24小时。

非晶态含量测定：估算样品中非晶相比例，参数涵盖含量范围0-100%和误差±2%。

检测范围

金属合金：包括钢铁、铝合金和钛合金等结构材料。

陶瓷材料：如氧化铝、碳化硅和氮化硅等高温陶瓷。

聚合物晶体：包括聚乙烯、聚丙烯和尼龙等半结晶聚合物。

半导体材料：如硅、锗和砷化镓等电子器件基材。

矿物样品：包括石英、长石和方解石等地质矿物。

药物晶体：如活性药物成分和制剂中的晶体形式。

纳米材料：包括纳米颗粒和纳米线等低维结构。

复合材料：如碳纤维增强塑料和金属基复合材料。

生物材料：包括骨骼、牙齿和贝壳等生物矿物。

能源材料：如电池电极材料和燃料电池电解质。

检测标准

ASTM E975：用于残余奥氏体测定的X射线衍射方法。

ISO 14706：表面化学分析-X射线光电子能谱术和X射线衍射。

GB/T 13298：金属显微组织检验方法。

ASTM D5380：X射线衍射测定沸石晶体结构。

ISO 20203：铝生产用碳素材料-X射线衍射测定结晶度。

GB/T 23413：纳米材料晶体结构测试X射线衍射法。

ASTM E1426：X射线衍射残余应力测定标准。

ISO 17974：表面化学分析-X射线衍射晶体结构分析。

GB 17359：电子探针和X射线衍射定量分析方法。

ASTM F2024：X射线衍射测定聚合物结晶度。

检测仪器

X射线衍射仪：产生和探测X射线衍射，用于角度扫描和 pattern 采集。

电子衍射仪：利用电子束进行衍射，适用于纳米尺度的晶体结构分析。

中子衍射仪：使用中子源探测轻元素和磁性材料的结构。

高分辨率衍射系统：提供精细角度分辨率，用于晶格常数精测。

原位衍射装置：在温度或压力变化下实时监测晶体结构演变。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。