项目数量-40536
薄膜纯度质谱分析检测
北检院检测中心 | 完成测试:次 | 2025-09-05
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
元素杂质分析:检测薄膜中微量金属杂质含量,具体检测参数包括检测限0.1 ppb,精度±5%。
有机污染物鉴定:分析薄膜表面有机分子残留,具体检测参数包括浓度范围0.01-100 ppm,相对标准偏差3%。
同位素比率测定:评估薄膜元素组成稳定性,具体检测参数包括比率精度0.001%,测量范围1-1000 amu。
气体杂质检测:识别薄膜中 trapped gases,具体检测参数包括灵敏度10 ppt,线性范围0.1-1000 ppb。
表面污染分析:测量薄膜表面吸附污染物,具体检测参数包括空间分辨率1 μm,深度剖析能力。
化合物定性:确定薄膜中特定化合物种类,具体检测参数包括质量精度0.1 Da,扫描速度10 Hz。
定量分析:计算杂质元素浓度,具体检测参数包括校准曲线R²>0.99,重复性误差2%。
深度剖析:分析薄膜截面元素分布,具体检测参数包括深度分辨率5 nm,溅射速率0.1 nm/s。
多元素同时检测:一次性分析多种元素,具体检测参数包括元素数量可达50种,动态范围10^6。
样品均匀性评估:检查薄膜成分分布一致性,具体检测参数包括采样点数量100,偏差限值5%。
检测范围
半导体薄膜:用于集成电路制造的薄膜材料,如硅基涂层。
光学涂层:应用于镜片和显示器的薄膜,提高透光性或反射性。
光伏薄膜:太阳能电池中的吸光层材料,如CIGS薄膜。
包装材料:食品和药品包装用薄膜,确保无污染。
医疗器械涂层:植入式设备的生物相容性薄膜,如抗菌涂层。
航空航天材料:飞行器表面防护薄膜,耐高温和腐蚀。
电子显示器:OLED或LCD屏幕的薄膜组件,影响显示质量。
防腐涂层:金属表面防腐薄膜,延长使用寿命。
纳米薄膜:超薄材料用于纳米技术应用,如石墨烯薄膜。
生物薄膜:医疗诊断用薄膜,如传感器涂层。
检测标准
ASTM E1252标准用于质谱分析的一般指南。
ISO 17294标准涉及电感耦合等离子体质谱法。
GB/T 5009.74标准关于食品接触材料杂质检测。
ASTM D7144标准用于涂层中杂质分析。
ISO 18JianCe标准针对表面化学分析质谱方法。
GB 31604.1标准涉及食品用材料安全要求。
ASTM F1375标准用于电子薄膜纯度测试。
ISO 10700标准关于钢铁中微量元素质谱分析。
GB/T 17359标准用于电子显微镜结合质谱的方法。
ASTM E1601标准涉及质谱仪器校准规范。
检测仪器
质谱仪:用于元素和化合物分析,具体功能是检测离子质量并定量杂质含量。
气相色谱-质谱联用仪:分离和鉴定挥发性化合物,具体功能是提供高分辨率质谱数据用于有机污染物分析。
电感耦合等离子体质谱仪:检测金属元素杂质,具体功能是 achieving ppb级检测限和多元素同时测量。
二次离子质谱仪:进行表面和深度剖析,具体功能是提供纳米级空间分辨率以分析薄膜截面。
飞行时间质谱仪:高速分析化合物,具体功能是测量高质量精度和快速扫描用于均匀性评估。
检测流程
线上咨询或者拨打咨询电话;
获取样品信息和检测项目;
支付检测费用并签署委托书;
开展实验,获取相关数据资料;
出具检测报告。

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