电子显微镜检测

检测范围

透射电子显微镜，扫描电子显微镜，光学显微镜，原子力显微镜，扫描隧道显微镜，蛋白质结晶显微镜，冷冻电子显微镜，电子衍射显微镜，近场扫描光学显微镜，单分子荧光显微镜，共聚焦显微镜，紫外-可见光光谱显微镜，原子吸收光谱显微镜，化学组成显微镜，磁力显微镜

检测项目

晶体结构分析，晶体缺陷分析，化学成分分析，颗粒大小分析，表面形貌观察，显微区晶体取向分析，微区组织分析，显微组织分析，纳米颗粒表征，纳米结构分析，膜厚度测量，电子衍射分析，显微区电子能谱分析，显微硬度测试，斑点分析。

晶体结构分析，晶体缺陷分析，化学成分分析，颗粒大小分析，表面形貌观察，显微区晶体取向分析，微区组织分析，显微组织分析，纳米颗粒表征，纳米结构分析，膜厚度测量，电子衍射分析，显微区电子能谱分析，显微硬度测试，斑点分析。

检测方法

电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，可用于观察和研究物质的微观结构。它主要通过电子束与样品的相互作用来获得图像。电子显微镜通常分为透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）两种类型。透射电子显微镜可以提供更高分辨率的图像，适用于观察样品的内部结构；而扫描电子显微镜则适用于表面形貌和成分分析。

检测仪器

在电子显微镜检测中，常用的实验室仪器包括透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、能谱仪（EDS）等。

检测标准

ISO/TS 24597-2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法

ASTM E766-1998(2003) 扫描电子显微镜放大倍数校准规程

ASTM E766-1998 标定扫描电子显微镜放大倍数的规程

ASTM E986-2004 扫描电子显微镜电子束尺寸性能规程

JIS K3850-2-2000 空气中纤维粒子的测量方法.第2部分:直接传递透射电子显微镜法

JIS K3850-3-2000 空气中纤维粒子的测量方法.第3部分:间接传递透射电子显微镜法

BS CECC 00013-1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验

ISO 9220-1988 金属涂层 - 涂层厚度测量 - 扫描电子显微镜法

ASTM E766-2014 扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法

BS EN ISO 9220-1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检研究院的服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。