辐射跃迁概率实验

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2026-03-31  

本检测系统阐述了辐射跃迁概率实验研究的核心内容。文章首先介绍了辐射跃迁概率的基本概念及其在原子物理、天体物理和等离子体诊断等领域的重要性。随后,文章以结构化形式详细列出了实验涉及的四大板块:检测项目、检测范围、检测方法与检测仪器设备。每个板块均包含十个具体条目,涵盖了从原子能级寿命测量到光谱线型分析等关键实验方向,以及从真空紫外到微波波段的广泛光谱范围,并详细说明了时间相关单光子计数、激光诱导荧光等主流实验技术和所需的核心仪器设备,为相关领域的实验设计与研究提供了全面的技术参考。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

原子能级寿命测量:直接测定原子或离子特定激发态的平均寿命,是获得辐射跃迁概率最直接的实验项目。

谱线绝对强度测量:通过测量特定谱线的绝对辐射强度,结合能级布居数等信息,反推得到相应的跃迁概率。

分支比测量:测定从同一上能级向多个下能级跃迁所发射谱线的相对强度比,用于确定各跃迁通道的概率比例。

振子强度测定:测量与辐射跃迁概率直接相关的物理量——振子强度,是理论计算与实验验证的关键对比参数。

爱因斯坦A系数测定:直接测量自发辐射爱因斯坦A系数,即单位时间的自发辐射跃迁概率。

斯塔克展宽参数测量:通过测量电场引起的谱线展宽,间接推断与碰撞辐射模型相关的跃迁概率信息。

Zeeman效应谱线分量强度比:在外磁场中测量谱线各偏振分量的强度分布,验证与跃迁概率相关的选择定则。

等离子体发射系数诊断:在可控等离子体中,通过测量局部发射系数来推导包含跃迁概率的原子物理参数。

激光诱导荧光衰减曲线:利用短脉冲激光激发原子,记录其荧光衰减曲线,从而精确提取能级寿命。

束箔光谱学跃迁强度:利用离子束穿过碳箔后的激发态衰减光谱,测量快速离子谱线的强度以确定跃迁概率。

检测范围

真空紫外波段(VUV):覆盖约10-200纳米波长范围,用于测量高电离态离子或高能级间的跃迁。

紫外可见波段(UV-Vis):覆盖约200-800纳米波长范围,是大多数原子和低电离度离子共振线与主线系的主要区域。

近红外与红外波段(NIR-IR):覆盖约0.8微米至数十微米,用于测量能级间隔较小的跃迁,如里德伯态间的跃迁。

微波与射频波段:用于测量超精细结构能级间或塞曼子能级间的跃迁概率,对应波长从毫米到米级。

中性原子体系:针对未电离的原子,研究其主量子数n较低或较高的激发态之间的辐射跃迁。

单次电离离子体系:针对失去一个电子的离子(如Ca II, Fe II),其谱线在天体物理中极为重要。

高离化态离子体系:针对失去多个电子的离子(如类氢、类锂离子),研究其在高温等离子体中的辐射特性。

密度气相环境:如原子束、低气压放电灯,确保原子间碰撞干扰最小,测量结果接近孤立原子值。

中高密度等离子体环境:如托卡马克、激光产生等离子体,研究集体效应和环境对有效跃迁概率的影响。

天体光谱源:将实验室测得的精确跃迁概率数据应用于分析太阳、恒星、星云等天体的观测光谱。

检测方法

时间相关单光子计数法:使用短脉冲激发源和单光子探测器,通过统计大量荧光光子的到达时间分布来测量能级寿命。

相位调制法:用经正弦调制的光或电子束激发原子,通过测量荧光信号相对于激发信号的相位差来确定能级寿命。

束箔光谱学方法:让快速离子束穿过薄碳箔激发,在下游不同位置测量光谱强度随距离的衰减,从而计算寿命。

激光诱导荧光光谱法:使用可调谐激光选择性激发特定能级,通过高分辨率光谱仪测量荧光谱线的绝对或相对强度。

电子束离子阱技术:在EBIT中产生并束缚高离化态离子,利用其极低的密度和可控环境,精确测量X射线波段的跃迁概率。

等离子体发射光谱法:在标定过的实验等离子体中,结合空间分辨的强度测量和建模,反演得到跃迁概率数据。

Hanle效应法:利用原子在弱磁场中荧光偏振特性的变化来测量非常短的能级寿命(亚纳秒量级)。

光学双共振法:使用两束激光分别泵浦和探测相关能级,通过监测探测激光的吸收或荧光变化来获得跃迁参数。

衰减曲线卷积分析法:考虑激发脉冲宽度和仪器响应函数对测量衰减曲线的影响,通过解卷积得到真实的指数衰减寿命。

饱和吸收光谱:利用强激光饱和吸收效应消除多普勒展宽,获得精确的谱线中心强度信息,辅助分支比测量。

检测仪器设备

可调谐脉冲染料激光器或钛宝石激光器:作为高分辨率、窄线宽、波长可调的高质量激发光源,用于选择性激发原子能级。

高分辨率光谱仪:如光栅光谱仪或傅里叶变换光谱仪,用于将荧光或发射光色散,精确测量谱线波长和轮廓。

单光子计数型光电倍增管或雪崩光电二极管:具有极高灵敏度和快速时间响应,用于检测微弱荧光并进行时间分辨测量。

快速数字延时脉冲发生器:用于精确控制激光脉冲与探测器开门时间之间的延迟,进行时间相关单光子计数。

真空系统与原子束源:包括真空腔体、差分泵浦系统和高温炉或放电灯,用于产生低密度、无碰撞的原子或离子束。

电子束离子阱或EBIT:专门用于产生、束缚和研究高电荷态离子的装置,配备高纯度锗等X射线探测器。

标准辐射源与校准灯:如钨带灯、氘灯或同步辐射光,用于对整套光谱测量系统的绝对强度响应进行校准。

多通道分析仪或时间数字转换器:用于记录和统计光子到达时间,生成荧光衰减直方图。

偏振光学元件:包括偏振片、四分之一波片等,用于进行与偏振相关的测量,如Hanle效应或Zeeman分量分析。

高灵敏度CCD或ICCD探测器:用于二维光谱成像,可同时记录光谱维和空间维信息,提高数据采集效率。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院
北检(北京)检测技术研究院