EM磁条成分检测

北检院检测中心  |  完成测试:  |  2025-04-25  

EM磁条成分检测是通过科学手段对电磁记录介质进行材料分析与性能评估的专业化流程。核心检测内容包括基础材料组成、磁性层厚度、矫顽力分布及环境耐受性等指标。本检测遵循ISO/IEC7811系列标准规范,采用非破坏性测试与精密仪器分析相结合的方法体系,确保数据结果的客观性与可追溯性。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测项目

基础材料构成分析:测定聚酯基材与粘合剂的化学配比

磁性层元素分布:量化铁氧体、钴镍合金等磁性材料的元素含量

涂层厚度测量:包括底涂层(0.5-2μm)与磁性层(10-25μm)的垂直精度

磁性能参数:矫顽力(Hc)、剩磁(Br)、矩形比(S*)的梯度分布

物理特性测试:表面粗糙度(Ra≤0.3μm)、耐磨次数(≥5000次)

环境适应性:高温高湿(85℃/85%RH)老化后的磁通量衰减率

检测范围

金融支付类:信用卡磁条(ISO/IEC 7811-2)、储值卡高矫顽力磁条

身份识别类:护照签证页磁条、员工ID卡低频磁条

工业应用类:机床控制磁带、仪表记录磁介质

特种介质类:耐高温(150℃)磁条、抗辐射(10^5 Gy)存储介质

新兴技术类:复合RFID磁条、纳米晶软磁材料

检测方法

X射线荧光光谱法(XRF):依据ASTM E1621测定元素组成

台阶仪扫描法:按GB/T 11378测量涂层厚度分布

振动样品磁强计(VSM):基于JIS C2560获取B-H曲线参数

原子力显微镜(AFM):执行ISO 25178表面形貌分析标准

加速老化试验:参照IEC 60068-2-67进行湿热循环测试

动态信号分析:采用TDS3000B示波器捕捉读写波形失真度

检测仪器

Thermo Scientific ARL QUANT'X EDXRF光谱仪:配备30mm²硅漂移探测器

Bruker DektakXT轮廓仪:垂直分辨率达0.1nm的触针式测量系统

Lake Shore 7407系列VSM:磁场强度范围±3T,灵敏度1×10^-6 emu

Bruker Dimension Icon原子力显微镜:ScanAsyst模式自动优化扫描参数

ESPEC PL-3KPH恒温恒湿箱:温度波动度±0.5℃,湿度偏差±2%RH

Tektronix AWG70000任意波形发生器:支持12bit垂直分辨率信号输出

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验,获取相关数据资料;

出具检测报告。

北检(北京)检测技术研究院
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