微区X射线荧光测绘检测

检测项目

元素分布测绘：通过扫描样品表面生成元素浓度分布图，具体检测参数包括空间分辨率1μm、检测限ppm级。

定性分析：识别样品中的元素组成，具体检测参数包括能量分辨率小于150eV、元素范围钠至铀。

定量分析：测量元素浓度值，具体检测参数包括精度±5%、重复性3%。

层厚测量：分析涂层或薄膜厚度，具体检测参数包括厚度范围0.1-100μm、精度±2%。

污染物检测：识别表面污染物元素，具体检测参数包括检测面积1mm²、最小可检测量0.1μg。

合金成分分析：测定金属合金中各元素比例，具体检测参数包括分析时间小于5分钟、元素数量多达20种。

矿物鉴定：地质样品中矿物识别，具体检测参数包括元素映射速度10点/秒、分辨率5μm。

电子元件分析：印刷电路板或芯片元素分析，具体检测参数包括束斑大小10μm、电压范围5-50kV。

文物鉴定：考古样品元素分析，具体检测参数包括非破坏性检测、真空环境兼容。

环境样品分析：土壤或粉尘元素检测，具体检测参数包括多元素同时分析、检测时间3分钟。

检测范围

金属材料：包括钢铁、铝合金等，用于成分分析和杂质检测。

电子元器件：印刷电路板、半导体器件，检测元素分布和污染物。

地质样品：岩石、矿物标本，进行元素测绘和矿物鉴定。

考古文物：陶瓷、金属器物，非破坏性元素分析。

环境样本：土壤、空气颗粒物，污染监测和来源追踪。

生物材料：骨骼、牙齿组织，元素含量测定和分布研究。

涂层和薄膜：油漆、电镀层，厚度和成分分析。

聚合物材料：塑料、橡胶制品，添加剂和填充剂检测。

珠宝和贵金属：金、银饰品，纯度分析和真假鉴定。

食品和药品包装：包装材料，污染物和迁移元素检测。

检测标准

ASTM E1621标准用于X射线荧光光谱分析方法。

ISO 3497金属涂层厚度测量标准。

GB/T 223.5钢铁化学分析方法第五部分。

ISO 14594微束分析标准用于电子探针。

GB/T 16597有色金属分析通用标准。

ASTM D6247聚合物中元素含量检测标准。

ISO 17054合金成分分析标准方法。

GB/T 33345电子材料有害物质检测标准。

ASTM E1085不锈钢化学成分分析标准。

ISO 21270表面化学分析标准规范。

检测仪器

微区X射线荧光光谱仪：采用聚焦X射线束技术，用于元素分布测绘和定量分析，功能包括高分辨率成像和快速扫描。

X射线管：产生高能X射线束，激发样品产生荧光，参数包括功率50W、电压可调范围5-50kV。

硅漂移探测器：检测荧光X射线信号，实现高能量分辨率，功能包括多元素同时检测和低噪声操作。

精密样品台：电动移动平台，用于精确扫描样品表面，功能包括定位精度1μm和自动化控制。

数据处理系统：软件和硬件集成，用于数据分析和图像生成，功能包括定量计算和报告输出。

检测流程

线上咨询或者拨打咨询电话;

获取样品信息和检测项目;

支付检测费用并签署委托书;

开展实验，获取相关数据资料;

出具检测报告。